- [新闻中心]HMILU品牌国产芯片测试座极限参数解析：100GHz高频与百安级电流的技术突破2025年03月10日 14:30
- 一、主流封装芯片类型与测试需求 国产芯片测试座需适配多种封装形式，不同封装对测试参数提出差异化要求： 1. BGA（球栅阵列封装） 特点：高密度焊球（0.4mm间距）、优异散热性，适用于GPU、AI芯片等高算力场景。 测试需求：高频信号完整性（27GHz+）、多通道大电流（单Pin 1.5A）。 2. QFN（无引脚扁平封装） 特点：薄型化设计、底部散热焊盘，常见于汽车MCU、电源管理芯片。 测试需求：耐高温测试（-55℃~150℃）、接触阻抗30mΩ。 3.
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- [新闻中心]深圳鸿怡电子LCC24pin封装芯片翻盖老化座案例2023年02月06日 11:05
- LCC测试座、LCC老化座规格： 芯片封装类型：LCC 芯片引脚：24pin 芯片引脚间距：1.27mm 芯片尺寸：8.5×8.5mm IC老化测试座 LCC封装芯片老化测试要求： 测试温度：+150，无低温要求 测试时长：8000小时（持续温度150） 测试操作力：30每P 测试频率：-1db 3G 测试电流：1A（@150） 接触电阻：30毫欧 10mA 20mV 绝缘电阻：DC100V 1000兆欧已上 老化座材料：PEI 老化座结构：翻盖式
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- [新闻中心]PLCC48封装光电通信模块测试座案例2023年02月02日 11:20
- 目的：光电通信模块测试 名称：PLCC测试座、CLCC测试座 PLCC48pin封装芯片测试座规格： 芯片封装类型：CLCC、PLCC 芯片引脚：48pin 芯片引脚间距：1.0mm 芯片尺寸：16.4×16.4mm 芯片厚度：4.0mmCLCC封装芯片测试座 测试温度：-50~+100 测试时长：持续1000小时左右 测试频率：1MHZ 测试速率：单通道速率（3Gbps-10Gbps） 测试电流：500毫安内光电通信模块测试座 在鸿怡电子众多HMILU封装芯片测
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- [行业资讯]IC测试座对芯片的抽检测试和全检测试的用途2020年03月19日 17:39
- 对于芯片来说，有两种类型的测试，抽样测试和生产全测。抽样测试，比如设计过程中的验证测试，芯片可靠性测试，芯片特性测试等等，这些都是抽测，主要目的是为了验证芯片是否符合设计目标，比如验证测试就是从功能方面来验证是否符合设计目标，可靠性测试是确认最终芯片的寿命以及是否对环境有一定的鲁棒性，而特性测试测试验证设计的冗余度。 这里我们主要想跟大家分享一下生产全测的测试，这种是需要100%全测的，这种测试就是把缺陷挑出来，分离坏品和好品的过程。特别是有些GPU、CPU的大尺寸，PIN
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- [鸿怡动态]固态厂商是如何做测试的？2019年08月16日 17:27
- 现今市流上NAND FLASH主流的芯片厂商分别为：INTEL、MICRON、SAMSUNG、TOSHIBA、HYNIX等。我们也知道NAND FLASH在SSD固态硬盘整个成本中所占比率非常高,高达整个SSD成本的70%，在此种状况下，固态厂家在投产前大多都会对所购买的NAND FLASH进行100%测试检验，以确保所有投入生产使用的芯片良率，保证固态硬盘的产品质量。 那么SSD中的NAND FLASH是如何进行测试的呢？ 首先根据FLASH的制造工艺不同，大致分为两种：一
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- [鸿怡动态]IC测试座、老化座和IC测试治具市场分析2019年06月19日 14:18
- IC测试座、老化座和IC测试治具市场分析 随着电商的普及，网络资讯的发达，传统产品会越来越难以生存，但国家发改委在2014年成立了1200亿集成电路基金，计划未来10年内引入5万亿的资金投入到半导体产业来。有了国家政策及资金的扶植，未来50-100年，中国的半导体产业会进入一个高速发展期。而IC测试是整个集成电路产业链中不可或缺的一环，未来几十年IC设计公司、IC封测厂、终端设备厂等对于IC测试座、IC测试治具的需求也会越来越大。特别是一些特殊芯片的老化，对于老化座的需求也是
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- [行业资讯]LPDDR5内存标准发布：速度翻番、功耗降低2019年02月22日 13:58
- 2月20日，JEDEC（固态存储协会）正式发布了JESD209-5，即Low Power Double Data Rate 5 (LPDDR5)全新低功耗内存标准。 相较于2014年发布的第一代LPDDR4标准，LPDDR5的I/O速度从3200 MT/s 提升到6400 MT/s（DRAM速度6400Mbps），直接翻番。 如果匹配高端智能机常见的64bit bus，每秒可以传送51.2GB数据；要是PC的128bit BUS，每秒破100GB无压力。 固态协会认为，LPD
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- [鸿怡动态]关于BGA芯片级封装的老化测试座2019年02月20日 14:46
- 老化炉工作于各种不同的温度下，典型的最大老化温度为150摄氏度，IC老化座的寿命需要满足在高温下的总时间可能超过1000小时。由于老化期间加载了接触件，弹性元件经过了应力松弛。其中一种最佳弹性合金为CDA-172000，它是一种铍青铜合金。这种材料由于其兼具有可成型性、模量大、屈服强度高和应力松驰性能好，已经广泛用于IC老化插座。 一种冲压成型的接触件(我们称之为弹片）由铍青铜制成，用于0.75 mm节距的插座示于图5。这是一种具备现代工艺水平的金属成型的零件，片状材料的厚度
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- [鸿怡动态]为什么一定要做芯片验证呢？2019年01月02日 11:34
- IC验证是指在芯片流片之前对其硬件和软件进行充分的验证，可以及时发现芯片设计过程中很难发现的一些缺陷，及时调整和迭代，以保证流片顺利进行，因此芯片测试治具已经成为芯片验证环节的必备工具。 那么，为什么要做IC验证呢？ 在当代复杂芯片的设计中，70%的工作都是在验证。验证不仅仅是验证工程师的任务。就是RTL高手，50%以上的工作时间也是花在验证上。几乎100%项目的延期都是因为测试没能完成。可以毫不夸张的说，一个团队的验证能力是它的核心竞争力。 验证就是设计 因为验证在芯片设计
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- [鸿怡动态]用于SSD固态硬盘芯片的开卡测试方案板2018年11月05日 17:43
- 为大家介绍几款用于ssd固态硬盘/U盘板芯片开卡量产测试的方案板和flash ic测试座 SSD NAND闪存SM2256K主控测试解决方案适用于BGA152 132 100 88 LGA60 TSOP48 96闪存4合1多个PCB板该测试板采用SM2256K主控，可支持BGA152 / 132/100/88 / LGA60，TSOP84与DIP48（4CE测试）和DIP96（8CE测试）等多个封装闪存芯片测试，测试座可自由互换。a）为了测试TSOP48封装的闪存，我们可以同
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- [行业资讯]光学指纹的总出货量预计今年将达到1000万套2018年10月16日 11:46
- 光学指纹识别现在是智能手机的新宠。 Goodix董事长张帆指出，目前光学指纹识别的识别率已达到电容水平，并已完全商业化。在下半年，手机制造商将推出光学解决方案。预计汇顶明年出货量将达到1000万套。联发科的投资子公司Huiding是联发科的子公司。虽然联发科去年已售出5％的股份，但仍持有15.81％的股份。汇顶目前是以光学指纹识别IC为主要产品。张帆指出，汇顶多年来一直在开发光学指纹识别技术。自去年年初展示原型以来，经过一年多的时间来解决金手指识别率问题，终于今年，它成为世界
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- [鸿怡动态]通俗的了解IC老化座和IC测试座间的区别？2018年10月11日 11:31
- 我们常说的IC测试座和老化座有什么区别呢?相信有很多朋友都不是很了解，下面鸿怡电子的小编给大家讲解下： 用一个不是很恰当的比喻 老化座像一个人(芯片)，躺在床上，一睡可能100天。100天后起床了(弹簧長时间变形)，所有床上的1，000弹簧需弹回原位置，不可有的高，有的低变了形。 测试座像酒店的床，30天，可能睡30个不同的人(芯片)。床单(接触点)会被客人磨损，讲究接触点的镀层艺术(耐磨)。 理论上，老化座的成本，贵过测试座。老化座用的是铍銅，测试座用的是磷青銅。铍
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- [常见问题]鸿怡电子SSD固态硬盘测试座主要有哪些功能？2016年07月19日 11:42
- SSD固态硬盘测试座顾名思义就是用来测试固态硬盘的，那么这种测试座主要有哪些功能呢？ 现在SSD固态硬盘与U盘3.0市场BGA132/152的芯片使用量越来越大，固态硬盘的容量与速度越来越大，现在8CE的FLASH也在各大厂家使用越来越多 了，我公司为了方便各大测试厂测试生产的便利，开发了一款多功能SSD固态硬盘测试座，可以兼容BGA152/132/88/100，TSOP48等多种芯片测试。 功能一：SSD固态硬盘测试座可以测试同时插拔翻盖弹片转DIP48的BGA132/1
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