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模块测试座夹具

定制模块18pin-1.1mm测试座

邮票孔模块测试座产品特点:
体积小:整体尺寸最小可做到10MM*10MM*6.0MM
可做高频率测试:最高频率可达-1~-3dB@30GHz
定位精准度高:加工工艺可达 -+0.01MM
寿命长:寿命可达10万次(探针机械寿命可达15-20万)
稳定性高:采用合金材料,耐磨损20-30万次,耐高低温-45+155。
可维护性高:采用模块化设计,全配件可单独更换。
可标准化:产品设计周期短,交货速度快。


裸die芯片测试老化socket

定制铜裸DIE-0.64mm芯片测试座

定制铜裸DIE-0.64   11x11x1.27 合金翻盖测试座参数:

本体尺寸:11.0*11.0mm

中心引脚间距:0.65mm

Socket壳体:合金+PEEK

探针材料:铍铜

探针镀层:镍金

操作压力:2.0KGmin,与pin数成正比

接触阻抗:50mΩmax

耐压测试:700V AC for 1minute

绝缘阻抗:1000mΩ 500V DC

最大电流:1A

使用温度:-40°C-+155°C

机械寿命:大于80000次(机械测试)

定制QFN封装测试座

定制QFN9pin-0.5mm芯片测试座

QFN9pin芯片测试座参数:

本体尺寸:1.5*2.5mm

引脚中心间距:0.5mm

芯片测试座结构:翻盖式

Socket壳体:合金+PEEK

探针材料:铍铜

探针镀层:镍金

操作压力:2.0KGmin,与pin数成正比

接触阻抗:50mΩmax

耐压测试:700V AC for 1minute

绝缘阻抗:1000mΩ 500V DC

最大电流:1A

使用温度:-45°C-+125°C

机械寿命:大于15000次(机械测试)

BGA芯片测试座

定制下压结构BGA154-0.8mm间距存储芯片烧录测试座

定制BGA154-1.0mm 塑胶下压测试座参数:

本体尺寸:11.5x13.5mm

中心引脚间距:0.8mm

Socket壳体:POM+PEEK

探针材料:铍铜

探针镀层:镍金

操作压力:2.0KGmin,与pin数成正比

接触阻抗:50mΩmax

耐压测试:700V AC for 1minute

绝缘阻抗:1000mΩ 500V DC

最大电流:1A

使用温度:-40°C-+155°C

机械寿命:大于80000次(机械测试)

芯片测试座

定制QFP128-0.4mm芯片测试座

QFP128pin芯片测试座产品特点及规格

Socket本体:合金+PEEK

探针材料:铍铜

探针镀层:镍金

操作压力:2.OKGmin,pin数越多压力越大

接触阻抗:50mΩmax

耐压测试:700V AC for lminute

绝缘阻抗:1000m500V DC

最大电流:1A

使用温度:-45°C-+125*C

机械寿命:大于15000次(机械测试)


定制SOP6pin老化测试烧录夹具

定制sop6-2.54mm芯片测试座

定制SOP6pin-2.54mm芯片测试座参数:

绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

耐电压:For 1 Minute AtAC 700V

接触阻抗:30mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)

额定电流:1Amax/Pin.

工作温度:-45°C~+125°C

使用寿命:15,000 Times(Mechanical)

操作力:1.0Kg MAX

测试座结构:翻盖式

测试座材料:PEI+PEEK

TO247-2L整流二极管老化座

标品TO247-2pin器件老化测试座

TO247-2L整流器老练插座参数:

壳体材质:PEEK; 

接触端子:进口铍铜,触点镀厚金 

高温性能: 

1.120℃-135℃,连续使用大于5000 小时; 

2.135℃-150℃,连续使用时长大于200 小时; 

机械性能:插拔次数50000次; 

额定电流:20A

每pin拔插力度:25g/ pin

邮票孔模块测试座

定制LGA14-2.0邮票孔模块测试座

SPECIFICATION

1绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

2、耐电压:For1 Minute At AC 700V

3、接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)

4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)

5、额定电流:1A max/Pin.

6、工作温度:-45°C ~+125°C

7、使用寿命:20,000 Times(Mechanical)

8、操作力:1.0Kg MAX

9、中心引脚间距:2.0mm

10、适配芯片尺寸:20.0*21.5mm

WLCSP90pin芯片测试夹具

定制WLCSP90(28)pin-0.4mm芯片测试座

1. 微间距适配:探针需精准匹配0.35mm及以上间距的触点,同时避免相邻针尖短路

2. 温度适应性:工作温度范围需覆盖-55°C至120°C,以应对汽车电子(车规级)/工业设备(工业级)等严苛环境

3. 高可靠性:插拔次数需超过50万次,确保测试设备长期稳定运行.


24pin光电探测器模块测试座

定制LCC24-1.0光电探测器模块测试座

支持频率:≤200Mhz

温度范围:-45℃-125℃

操作力压:30g每pin,PIN越多需要压力越大

额定电流:单PIN1A max

接触电阻:≤50毫欧

绝缘电阻:DC500V 1000兆欧以上

机械寿命:>1.5万次

中心引脚间距:1.27mm

适配芯片尺寸:24.13*24.13mm

支持封装:QFN24-1.0mm -15x15mm 

产品特点:正面下针,器件在测试座腔体内导放。


UFS153pin芯片测试座

定制UFS153(87pin)-0.5mm芯片测试座

UFS153pin存储芯片测试座参数:

实际下针87pin

绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

耐电压:For 1 Minute At AC 700V

接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mAand 20mV MAX.(Initial)

额定电流:1Amax/Pin.

工作温度:-55°C ~+125°C

最高测试速率:6Ghz(仅UFS高速测试),HS400/HS200

操作力:15~30g/Pin MAX

SOT芯片测试socket

定制SOT23-8L-1.5mm芯片测试座

SPECIFICATION

1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

2、耐电压:For 1 Minute AtAC 700V

3、接触阻抗:30mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)

4、额定电流:1Amax/Pin.

5、工作温度:-55°C~+175°C

6、测试座结构:蓝宝石盖分离式

7、器件尺寸:2.8*2.9mm

DDR4×8合金内存条探针测试夹具

定制DDR4×8合金内存条探针功能测试

绝缘阻抗:1000mΩ Min.At DC 500V

耐电压:For 1 Minute AtAC 700V

接触阻抗:100mΩ MAX。 at 10mA and 20mV MAX.(Initial)

额定电流:1A max/Pin

工作温度:-55°℃ ~+125°C

最高测试速率:2800Mhz(可根据客户要求定制不同信号频率测试Socket)

操作力:15~30g/Pin MAX

SMD(DO-220)测试socket

定制SMP8/SMD5气压传感器测试座

SPECIFICATION
1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V
2、耐电压:For 1 Minute At DC 500V
3、接触阻抗:50mΩ MAX。at 10mA and 20mVMAX.(Initial)
4、额定电流:1Amax/Pin.
5、工作温度:-45~125℃

DDR4×8合金内存条探针测试夹具

定制DDR4×8合金内存条探针功能测试

绝缘阻抗:1000mΩ Min.At DC 500V

耐电压:For 1 Minute AtAC 700V

接触阻抗:100mΩ MAX。 at 10mA and 20mV MAX.(Initial)

额定电流:1A max/Pin

工作温度:-55°℃ ~+125°C

最高测试速率:2800Mhz(可根据客户要求定制不同信号频率测试Socket)

操作力:15~30g/Pin MAX

QFN32pin芯片老化测试座

定制QFN32pin-0.5mm芯片老化座

QFN32pin芯片老化测试座参数:

本体尺寸:5*5mm

引脚中心间距:0.5mm

芯片测试座结构:分离式

Socket壳体:合金+PEEK

探针材料:铍铜

探针镀层:镍金

操作压力:2.0KGmin,与pin数成正比

接触阻抗:50mΩmax

耐压测试:700V AC for 1minute

绝缘阻抗:1000mΩ 500V DC

最大电流:1A

使用温度:-45°C-+125°C

机械寿命:大于15000次(机械测试)

2512电容测试座

定制2512-2pin-1.79mm多工位电容测试座

2512电容测试座参数:

绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

耐电压:For 1 Minute AtAC 700V

接触阻抗:50mΩ MAX。at 10mAand 20mV MAX.(Initial)

额定电流:1Amax/Pin.可过6A

工作温度:-45°C~+155°C


模块测试座夹具

定制模块18pin-1.1mm测试座

邮票孔模块测试座产品特点:
体积小:整体尺寸最小可做到10MM*10MM*6.0MM
可做高频率测试:最高频率可达-1~-3dB@30GHz
定位精准度高:加工工艺可达 -+0.01MM
寿命长:寿命可达10万次(探针机械寿命可达15-20万)
稳定性高:采用合金材料,耐磨损20-30万次,耐高低温-45+155。
可维护性高:采用模块化设计,全配件可单独更换。
可标准化:产品设计周期短,交货速度快。


芯片测试座

定制邮票孔模块44PIN-1.0mm芯片测试座

功率半导体模块15pin测试座产品特点:
体积小:整体尺寸最小可做到10MM*10MM*6.0MM
可做高频率测试:最高频率可达-1~-3dB@30GHz
定位精准度高:加工工艺可达 -+0.01MM
寿命长:寿命可达10万次(探针机械寿命可达15-20万)
稳定性高:采用合金材料,耐磨损20-30万次,耐高低温-45~+125。
可维护性高:采用模块化设计,全配件可单独更换。
可标准化:产品设计周期短,交货速度快。


芯片测试座

定制邮票孔模块44PIN-1.0mm芯片测试座

功率半导体模块15pin测试座产品特点:
体积小:整体尺寸最小可做到10MM*10MM*6.0MM
可做高频率测试:最高频率可达-1~-3dB@30GHz
定位精准度高:加工工艺可达 -+0.01MM
寿命长:寿命可达10万次(探针机械寿命可达15-20万)
稳定性高:采用合金材料,耐磨损20-30万次,耐高低温-45~+125。
可维护性高:采用模块化设计,全配件可单独更换。
可标准化:产品设计周期短,交货速度快。


鸿怡电子HMILU品牌测试座在行业应用中的解决方案

鸿怡造·中国芯片检验方案服务标杆品牌卓越品质服务至上

cooperation

感恩前行23年来为众多客户提供优质服务

为加快半导体国产替代“芯进程”,鸿怡电子作为半导体测试/老化耗材的“第一梯队”,勇于担当,筑牢国产半导体自主测试“防线”,坚持“技术是根、创新是魂、人才为本”,并以“三个留人”理念(事业、待遇、文化)构建人才高地。

他们共同见证了鸿怡电子

走进鸿怡

二十三年前,深圳市鸿怡电子有限公司的董事长发现中国人一直都是用进口的测试座,价格非常昂贵且没有售后可言,于是萌生了一定要让中国人用上物美价廉的优质测试座的想法。公司经过23年发展,终于成为今天集科研、生产、销售于一体的技术密集型高新企业,在深圳--苏州--武汉都有生产工厂,占地面积超过五千平米...

深圳市鸿怡电子有限公司-2026年春节放假通知

深圳市鸿怡电子有限公司-2026年春节放假通知

尊敬的各位客户:大家好!新春伊始,万象更新,首先衷心感谢大家一直以来对我司的信任与支持,一路相伴,感恩同行!结合春节假期安排,现将我司放假及业务对接事宜告知如下:放假时间:2026年2月8日-2026年2月27日;复工时间:2026年2月2...

查看详情2026-02-02
核心算力载体:人工智能AI芯片测试基石-鸿怡电子高可靠性芯片测试座

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AI芯片测试正朝着高精度、宽适配、全周期的方向演进,先进封装技术与严苛应用场景(如自动驾驶、工业智能)推动测试设备向定制化、高可靠性升级。鸿怡电子通过老化座、测试座、烧录座的全产品线布局,以微间距适配、宽温调控、高可靠性设计等核心优势,实现...

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数据中心算力枢纽:国产存储芯片测试“桥梁”-鸿怡电子DDR芯片测试夹具治具

存储芯片作为数据中心与数字终端的核心基石,其技术迭代与质量保障离不开精准高效的测试方案。DDR4/LPDDR4X与DDR5/LPDDR5X两大系列芯片的并行发展,既满足了不同场景的差异化需求,也推动了测试技术向高频化、高精度、智能化、极端环...

查看详情2026-01-26