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QFN16pin芯片老化测试座

定制QFN16-0.6875 AS01KGL(4x4)合金翻盖测试座

QFN16pin芯片老化测试座参数:

引脚中心间距:0.6785mm

Socket壳体:合金+PEEK

探针材料:铍铜

探针镀层:镍金

操作压力:2.0KGmin,与pin数成正比

接触阻抗:50mΩmax

耐压测试:700V AC for 1minute

绝缘阻抗:1000mΩ 500V DC

最大电流:1A

使用温度:-45°C-+155°C

机械寿命:大于15000次(机械测试)
技术工程师:13823541217(微信同号),张工

金手指100pin-插槽

金手指DIP100pin-2.54老化插槽

绝缘阻抗:1000mΩ Min.At DC 500V

耐电压:For 1 Minute AtAC 700V

接触阻抗:100mΩ MAX。 at 10mA and 20mV MAX.(Initial)

额定电流:1A max/Pin

工作温度:-55°℃ ~+125°C

最高测试速率:7800Mhz(可根据客户要求定制不同信号频率测试Socket)

操作力:15~30g/Pin MAX

QFN16pin芯片老化测试座

定制QFN16-0.6875 AS01KGL(4x4)合金翻盖测试座

QFN16pin芯片老化测试座参数:

引脚中心间距:0.6785mm

Socket壳体:合金+PEEK

探针材料:铍铜

探针镀层:镍金

操作压力:2.0KGmin,与pin数成正比

接触阻抗:50mΩmax

耐压测试:700V AC for 1minute

绝缘阻抗:1000mΩ 500V DC

最大电流:1A

使用温度:-45°C-+155°C

机械寿命:大于15000次(机械测试)
技术工程师:13823541217(微信同号),张工

BGA196芯片测试座

定制BGA169pin-0.5 8x8合金旋钮翻盖老化座

SPECIFICATION
1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V
2、耐电压:For1 Minute At AC 700V
3、接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)
4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)
5、额定电流:1A max/Pin.
6、工作温度:-45°C ~+125°C
7、使用寿命:大于25,000 Times(Mechanical)
8、操作力:1.0Kg MAX(根据下针数量)
9、测试座结构:翻盖式
10、测试座材料:合金+PEEK
11、中心引脚间距:0.5mm
12、适配芯片尺寸:8*8mm

技术工程师:13823541217(微信同号)、张工

QFP100pin芯片测试座

定制QFP100-0.5 16x16x1.1合金旋钮探针测试座

定制QFP100-0.5  16x16x1.1合金旋钮探针测试座产品特点及规格

Socket本体:合金+PEEK

Socket结构:旋钮翻盖式

探针材料:铍铜

探针镀层:镍金

操作压力:2.OKGmin,pin数越多压力越大

接触阻抗:50mΩmax

耐压测试:700V AC for lminute

绝缘阻抗:1000m500V DC

最大电流:1A

使用温度:-45°C-+125*C

机械寿命:大于15000次(机械测试)

定制测试治具

定制CSOP48pin-0.635mm芯片测试座socket

定制CSOP48pin-0.635mm芯片测试座参数:

绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

耐电压:For 1 Minute AtAC 700V

接触阻抗:30mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)

额定电流:1Amax/Pin.

工作温度:-45°C~+125°C

使用寿命:15,000 Times(Mechanical)

操作力:1.0Kg MAX

测试座结构:旋钮翻盖式

测试座材料:合金+PEEK

TO247-2L整流二极管老化座

标品TO247-2pin器件老化测试座

TO247-2L整流器老练插座参数:

壳体材质:PEEK; 

接触端子:进口铍铜,触点镀厚金 

高温性能: 

1.120℃-135℃,连续使用大于5000 小时; 

2.135℃-150℃,连续使用时长大于200 小时; 

机械性能:插拔次数50000次; 

额定电流:20A

每pin拔插力度:25g/ pin

定制LGA测试座

定制LGA20-1.27 8.9X8.9X3.1一拖九合金双扣测试座

SPECIFICATION

1绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

2、耐电压:For1 Minute At AC 700V

3、接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)

4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)

5、额定电流:1A max/Pin.

6、工作温度:-45°C ~+125°C

7、使用寿命:20,000 Times(Mechanical)

8、操作力:1.0Kg MAX

9、中心引脚间距:0.7mm

10、适配芯片尺寸:5.7*6.78*4.76mm

11、工程师、微信同号:13823541217

晶圆级芯片测试座

定制WLCS25-0.5 (2.415X2.415)合金翻盖探针老化座

1. 微间距适配:探针需精准匹配0.35mm及以上间距的触点,同时避免相邻针尖短路
2. 温度适应性:工作温度范围需覆盖-55°C至120°C,以应对汽车电子/工业设备等严苛环境
3. 高可靠性:插拔次数需超过50万次,确保测试设备长期稳定运行.
2.技术工程师咨询:13823541217  张工


LCC60pin光电模块测试座

定制LCC60-1.1 (15.45X23.75)合金翻盖探针测试座

支持频率:≤200Mhz

温度范围:-45℃-125℃

操作力压:30g每pin,PIN越多需要压力越大

额定电流:单PIN1A max

接触电阻:≤50毫欧

绝缘电阻:DC500V 1000兆欧以上

机械寿命:>1.5万次

中心引脚间距:1.27mm

适配光电模块尺寸:30*40mm

技术工程师:13823541217(微信同号)、张工

UFS153pin芯片测试座

定制UFS153(87pin)-0.5mm芯片测试座

UFS153pin存储芯片测试座参数:

实际下针87pin

绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

耐电压:For 1 Minute At AC 700V

接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mAand 20mV MAX.(Initial)

额定电流:1Amax/Pin.

工作温度:-55°C ~+125°C

最高测试速率:6Ghz(仅UFS高速测试),HS400/HS200

操作力:15~30g/Pin MAX

SOT芯片测试socket

定制SOT23-8L-1.5mm芯片测试座

SPECIFICATION

1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

2、耐电压:For 1 Minute AtAC 700V

3、接触阻抗:30mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)

4、额定电流:1Amax/Pin.

5、工作温度:-55°C~+175°C

6、测试座结构:蓝宝石盖分离式

7、器件尺寸:2.8*2.9mm

定制测试座

定制BGA96pin-0.8mm芯片ATE测试座socket

SPECIFICATION
1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V
2、耐电压:For1 Minute At AC 700V
3、接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)
4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)
5、额定电流:1A max/Pin.
6、工作温度:-45°C ~+125°C
7、使用寿命:大于25,000 Times(Mechanical)
8、操作力:1.0Kg MAX(根据下针数量)
9、测试座结构:翻盖式
10、测试座材料:合金+PEEK
11、中心引脚间距:0.8mm
12、适配芯片尺寸:7.5*13.3mm

LED灯珠测试座_600x800

定制SMD封装LED灯珠翻盖探针式测试座

SPECIFICATION
1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V
2、耐电压:For 1 Minute At DC 500V
3、接触阻抗:50mΩ MAX。at 10mA and 20mVMAX.(Initial)
4、额定电流:1Amax/Pin.
5、工作温度:-45~125℃

BGA82内存条测试治具

DDR5X8-82ball一拖八导电胶内存条测试治具

绝缘阻抗:1000mΩ Min.At DC 500V

耐电压:For 1 Minute AtAC 700V

接触阻抗:100mΩ MAX。 at 10mA and 20mV MAX.(Initial)

额定电流:1A max/Pin

工作温度:-55°℃ ~+125°C

最高测试速率:7800Mhz(可根据客户要求定制不同信号频率测试Socket)

操作力:15~30g/Pin MAX

5032晶振测试座

定制5032(8PIN)-1.27 5X3.2X1.6晶振翻盖测试座

定制5032(8PIN)-1.27   5X3.2X1.6晶振翻盖测试座参数:

支持频率:≤1Ghz

温度范围:-40℃~125℃

操作力压:30g每pin,PIN越多需要压力越大

额定电流:单PIN 1A max

接触电阻:≤50毫欧

绝缘电阻:DC500V 1000兆欧以上

机械寿命:>1.5万次

定制电容4pin合金翻盖无针测试座socket

定制电容4pin合金翻盖无针测试座socket

4pin电容测试座参数:

绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

耐电压:For 1 Minute AtAC 700V

接触阻抗:50mΩ MAX。at 10mAand 20mV MAX.(Initial)

额定电流:1Amax/Pin.可过6A

工作温度:-45°C~+125°C

光电模块测试座

定制碟形管壳14PIN-2.54 12.7x30合金翻盖探针测试座

 定制碟形管壳14PIN-2.54 12.7x30合金翻盖探针测试座产品特点:
体积小:整体尺寸最小可做到10MM*10MM*6.0MM
可做高频率测试:最高频率可达-1~-3dB@30GHz
定位精准度高:加工工艺可达 -+0.01MM
寿命长:寿命可达10万次(探针机械寿命可达15-20万)
稳定性高:采用合金材料,耐磨损20-30万次,耐高低温-45~+125。
可维护性高:采用模块化设计,全配件可单独更换。
可标准化:产品设计周期短,交货速度快。

技术工程师:13823541217(微信同号)、张工

光电模块测试座

定制碟形管壳14PIN-2.54 12.7x30合金翻盖探针测试座

 定制碟形管壳14PIN-2.54 12.7x30合金翻盖探针测试座产品特点:
体积小:整体尺寸最小可做到10MM*10MM*6.0MM
可做高频率测试:最高频率可达-1~-3dB@30GHz
定位精准度高:加工工艺可达 -+0.01MM
寿命长:寿命可达10万次(探针机械寿命可达15-20万)
稳定性高:采用合金材料,耐磨损20-30万次,耐高低温-45~+125。
可维护性高:采用模块化设计,全配件可单独更换。
可标准化:产品设计周期短,交货速度快。

技术工程师:13823541217(微信同号)、张工

光电模块测试座

定制碟形管壳14PIN-2.54 12.7x30合金翻盖探针测试座

 定制碟形管壳14PIN-2.54 12.7x30合金翻盖探针测试座产品特点:
体积小:整体尺寸最小可做到10MM*10MM*6.0MM
可做高频率测试:最高频率可达-1~-3dB@30GHz
定位精准度高:加工工艺可达 -+0.01MM
寿命长:寿命可达10万次(探针机械寿命可达15-20万)
稳定性高:采用合金材料,耐磨损20-30万次,耐高低温-45~+125。
可维护性高:采用模块化设计,全配件可单独更换。
可标准化:产品设计周期短,交货速度快。

技术工程师:13823541217(微信同号)、张工

鸿怡电子HMILU品牌测试座在行业应用中的解决方案

鸿怡造·中国芯片检验方案服务标杆品牌卓越品质服务至上

cooperation

感恩前行23年来为众多客户提供优质服务

为加快半导体国产替代“芯进程”,鸿怡电子作为半导体测试/老化耗材的“第一梯队”,勇于担当,筑牢国产半导体自主测试“防线”,坚持“技术是根、创新是魂、人才为本”,并以“三个留人”理念(事业、待遇、文化)构建人才高地。

他们共同见证了鸿怡电子

走进鸿怡

二十三年前,深圳市鸿怡电子有限公司的董事长发现中国人一直都是用进口的测试座,价格非常昂贵且没有售后可言,于是萌生了一定要让中国人用上物美价廉的优质测试座的想法。公司经过23年发展,终于成为今天集科研、生产、销售于一体的技术密集型高新企业,在深圳--苏州--武汉都有生产工厂,占地面积超过五千平米...

光学CPU芯片:主流封装、应用与功能/性能/可靠性测试-鸿怡电子芯片测试座&老化座协同方案

光学CPU芯片:主流封装、应用与功能/性能/可靠性测试-鸿怡电子芯片测试座&老化座协同方案

测试工装夹具的精密性、稳定性、抗干扰性是决定光学CPU测试精度与良率的核心关键。依托鸿怡电子光学CPU专用测试座与温控老化座一体化解决方案,可有效解决行业高速信号失真、光路对位偏差、老化温场不均、测试数据离散等痛点,助力光电芯片企业实现高端...

查看详情2026-07-22
LPDDR5/LPDDR5X/LPDDR5T内存颗粒芯片测试:鸿怡电子TFBGA441芯片测试座socket

LPDDR5/LPDDR5X/LPDDR5T内存颗粒芯片测试:鸿怡电子TFBGA441芯片测试座socket

鸿怡电子的LPDDR5测试解决方案已批量应用于国内头部存储企业。其测试座支持探针耐插拔次数突破20万次,满足量产场景下的高频次测试需求。在芯片交付质量保障方面,某MCU厂商应用鸿怡电子测试方案后,芯片交付后的早期失效率从1.2%降至0.05...

查看详情2026-07-20
鸿怡电子IC老练插座工程师带您了解芯片可靠性老化测试中的功耗双哨:Static IDD与Dynamic IDD测试对比

鸿怡电子老化测试座通过双模式自动切换、逐Site独立监控和全生命周期数据追溯,为这两项关键功耗测试提供了精确、可靠、高效的硬件承载平台。在低功耗芯片、车规芯片和高可靠性芯片的测试实践中,这种将功耗监控深度融入老化流程的设计理念,正成为确保芯...

查看详情2026-07-15