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DSBGA6封装MOSFET/温度传感器芯片测试座夹具烧录编程座socket
产品简介:DSBGA-6封装测试座
常见芯片:MOSFET/温度传感器
适配封装规格:DSBGA6,间距0.4,尺寸:1.285*0.885mm。
性能参数:测试电流1A,测试频率
100
MHZ,环境温度125℃...
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PCR导电胶手自一体BGA112ball封装测试座夹具治具socket
产品简介:BGA112封装PCR导电胶高频/高速测试座夹具socket。
适配芯片规格:BGA封装112ball,0.5间距,尺寸5.5*5.5*1.15。
socket性能参数:在温度-40~125℃下跑高频12GHZ持续老化
100
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WLCSP12烧录座读写夹具测试socket治具WLCSP16封装0.4pitch
产品简介:WLCSP晶圆级封装芯片转DIP烧录座读写夹具0.4pitch。
适配芯片规格:WLCSP封装,12/16pin,间距0.4。
产品特点:
1、工作温度:-40℃~125℃;
2、材质:PEI、PPS;
3、单PIN额定电...
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陶瓷封装CSSOP20-0.65探针塑胶翻盖老化座测试socket夹具
产品简介:CSOP陶瓷封装老化座夹具,非标采用pogoPIN定制。
产品特性:
1、工作温度:-40℃~125℃;
2、针板材质:FR4;外壳材质:PEI、PPS;
3、单PIN额定电压&电流:直流12V&1.0A;
4、耐...
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定制BGA575翻盖旋钮探针测试座0.5间距夹具烧录座socket
产品简介:利用客户现有的PCBA定制测试socket,应用于BGA575封装芯片进行测试、读写。
适配IC封装规格:BGA575,间距0.5mm,尺寸13*13mm。
测试座技术参数:
1、工作温度:-55℃~155℃@5000h;
...
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QFN18封装CS5755SDQ半桥IPM功率模块老化座夹具测试座socket
1、产品简介:对QFN7x7-18L封装的的IPM功率IC进行老化测试。
2、适配IC封装规格:QFN18pin,最小pitch0.65mm,尺寸7x7x0.75。
3、性能要求:-55℃~155℃持续老化测试。
4、老化测试座技术指标:
...
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定制 QFN
100
烧录座 测试座 测试夹具 老化座 测试socket 0.4pitch
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖旋钮式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压...
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定制 WLCSP20 烧录座 夹具 测试socket 0.4pitch
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
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88E1111 MARVELL测试治具测试架QFN96测试夹具socket
产品简介:88E1111 MARVELL 芯片QFN96封装测试治具(光通信接头)
性能参数:
工作频率:2.5GHZ;
工作温度:40℃~85℃;
单PIN电流:1A;
功率:无要求;
接触阻抗:≤
100
0小时...
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定制LGA84翻盖合金测试座老化夹具烧录夹具socket
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
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定制LCC48-1.0合金翻盖探针测试座烧录座夹具socket
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
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BGA900ball封装CPU测试座夹具治具socket高频探针老化老炼夹具
产品参数:
1、工作温度:-40℃~125℃@
100
0h;
2、针板材质:陶瓷peek;外壳材质:PEI、PPS;
3、探针镀覆:3μ" Au over 50-
100
μ" Ni(鍍金3μ...
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MCU 测试socket QFN64烧录座 读写夹具 测试座 老化座老炼夹具9*9
材料&特性:
socket本体:PEI\LCP
弹片材料:铍铜
弹片镀层:镍金
操作压力:0.5KG min ,PIN越多压力越大
绝缘阻抗:1,000MΩ500VDC
最大电流:1A
使用温度:-40℃~135℃@
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定制QFP
100
-0.65翻盖探针测试架20*14mm测试治具夹具
产品简介:
用途:在客户原有的产品上面验证测试QFP
100
封装的微控制器芯片。
芯片规格:QFP封装
100
脚、pitch0.65mm,本体尺寸14*20mm。
测试架类...
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SOP16自动机台烧录座夹具合金探针pogoPIN测试读写socket
应用:自动机台设备烧录 ①结构:下压式; ②外壳材质:铝合金; ③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金; ④核心部件材质:peek陶瓷; ⑤额定电流:1A; ⑥操作压力:30g、PIN越多压力越大; ⑦接触电阻:<...
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定制 QFN64 射频芯片 测试座 加接地铜块散热 测试夹具 老化座 socket
性能参数:
工作频率:8GHZ@1DB;
工作温度:-55℃~155℃;
单PIN电流:1A;
功率:3W;
接触阻抗:≤
100
mΩ
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定制QFN40-0.35自动化open top socket 烧录座 夹具 读写编程测试座
测试座(夹具)特性
①结构:下压式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
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晶圆级封装 WLCSP115pin封装 芯片烧录座夹具 读写编程座 老化测试座socket
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
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定制 QFP
100
微控制器芯片 测试治具 测试架 测试夹具 测试座
产品简介:
用途:在客户原有的产品上面验证测试QFP
100
封装的微控制器芯片。
测试架类型:翻盖旋钮式
接触方式:双头测试探针
工作频率:430Mhz
特点:①按芯片管...
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