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PLCC48封装光电通信模块测试座案例

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浏览:- 发布日期:2023-02-02 11:20:25【


PLCC图纸目的:光电通信模块测试

名称:PLCC测试座、CLCC测试座

PLCC48pin封装芯片测试座规格:

芯片封装类型:CLCC、PLCC

芯片引脚:48pin

芯片引脚间距:1.0mm

芯片尺寸:16.4×16.4mm

芯片厚度:4.0mm

CLCC封装芯片测试座

测试温度:-50°~+100°

测试时长:持续1000小时左右

测试频率:1MHZ

测试速率:单通道速率(3Gbps-10Gbps)

测试电流:500毫安内

光电通信模块测试座

在鸿怡电子众多HMILU封装芯片测试座案例中,后续将会分享更多的IC测试座、老化座、烧录座、芯片测试夹具、芯片测试治具、芯片测试架等案例,仅供参考,敬请关注!


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