DDR存储芯片的种类、封装测试与鸿怡芯片老化座、测试夹具治具应用 一、国产DDR系列存储芯片的种类与技术演进 国产DDR存储芯片以长鑫存储(CXMT)为代表,已实现从DDR4到DDR5的全系列覆盖。DDR4采用19nm工艺,单颗芯片容量达16Gb,支持1.2V电压,最高速率3200...
鸿怡工程师告诉您为什么汽车MCU芯片要做可靠性老化测试? 一、汽车MCU芯片核心概述 汽车MCU(微控制器单元)作为车载电子系统的“神经中枢”,集成CPU、内存、通信接口等模块,承担实时控制与数据处理任务。 其应用覆盖动力总成(发动机/变速...
芯片ICTC测试:从核心技术到自加热芯片测试座的关键应用 一、ICTC测试的核心框架与测试项 ICTC(In-Circuit Test and Characterization)测试是半导体制造中确保芯片电气性能与功能完整性的核心环节,其测试体系涵盖以下维度: 1.电气参数测试 静态特...
1分钟带您了解电容:型号命名方式与电容老化测试座方案 一、电容型号分类与命名规则 1.陶瓷电容(MLCC) 命名体系: 英制:如0805表示尺寸(长0.08英寸,宽0.05英寸),对应公制2012(2.0mm×1.2mm)。 材质编码:C0G(NP0)表示温度系数±...
IC/芯片老化板+老炼夹具是如何提高测试准确性和可靠性的? 一、IC老化板核心作用与可靠性验证工况需求 1.核心作用 老化板是模拟产品在极限工况下长期运行的可靠性验证载体,核心价值在于: 早期失效筛选:通过高温、高压、高湿等应力加速缺陷暴露,剔除...
鸿怡电子DRAM、SRAM、NAND、DIMM、LOGIC-DDR存储芯片测试座解决方案 一、DDR存储芯片类型与特点 1. DRAM(动态随机存取存储器) 核心特点:基于电容电荷存储数据(1T1C结构),需定期刷新(64ms周期),密度高、成本低,用于主存。例如,DDR5-6400颗粒带宽达51.2G...