“鸿”业之愿于精密检测
“怡”心一意只为IC服务
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双十一大站刚刚撤下帷幕，每年的双十一大站中，电子产品无疑是竞争最火热的一个站场。各路厂商也都卯足了劲火力全开，手机，笔记本，平板电脑等市场的需求越来越大，消费者对产品的性能，外观方面有着越来越高的要求。而相应的生产厂商们也面临着更严峻的考验。小到主板芯片，LCD显示屏，都需要经过千百道严苛的试验。
作为电子产品中最重要的组成部分之一，芯片的测试工作无疑是最为严苛的一道工序，我们都知道，电子产品的寿命，很大程度取决于芯片的性能。故，对芯片的可靠性测试，也是一项必不可少的工作。产品一直在运行，其芯片、模块也一直在升温，随着时间的推移，长期这样的环境，对电子产品的使用寿命有着重要的影响。因此，芯片的加速老化实验，变得愈加重要。
HAST是一种试验，用提高环境应力(如温度、湿度、压力)的方式，加速产品(主要为芯片）老化，缩短测试周期，用来评定PCB压合和绝缘电阻，与相关材料的吸湿效果状况，以评估固态组件的可靠性。HAST 通常会在 130 摄氏度、85% 相对湿度条件和高气压条件下，对器件进行至少 96 小时的测试。
因此，芯片设计公司，都会在芯片出厂前，通过HAST老化测试，来验证产品的可靠性。从而筛选性能更好的良片投放市场。
为了满足芯片设计公司芯片测试老化的需求，深圳市鸿怡电子有限公司，18年来致力于各种封装芯片老化测试座的生产和研发，公司自有品牌的ANDK老化测试座可以很好的满足客户对芯片做加速老化试验的需求，产品涵盖QFN、BGA、WLCSP、LGA等各类封装的芯片老化测试座。
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