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摄像头CMOS芯片测试座

定制BGA83pin-0.7mm摄像头CMOS芯片测试座

SPECIFICATION
1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V
2、耐电压:For1 Minute At AC 700V
3、接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)
4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)
5、额定电流:1A max/Pin.
6、工作温度:-45°C ~+125°C
7、使用寿命:大于25,000 Times(Mechanical)
8、操作力:1.0Kg MAX(根据下针数量)
9、测试座结构:翻盖式
10、测试座材料:合金+PEEK
11、中心引脚间距:0.7mm
12、适配芯片尺寸:10*5.6mm

DFN20pin芯片测试夹具

定制DFN20pin-0.5mm芯片测试座

DFN20pin芯片测试座参数:

本体尺寸:5.5*3.5mm

中心引脚间距:0.5mm

Socket壳体:合金+PEEK

测试座结构:翻盖式

探针材料:铍铜

探针镀层:镍金

操作压力:2.0KGmin,与pin数成正比

接触阻抗:50mΩmax

耐压测试:700V AC for 1minute

绝缘阻抗:1000mΩ 500V DC

最大电流:1A

使用温度:-45°C-+125°C

机械寿命:大于15000次(机械测试)

摄像头CMOS芯片测试座

定制BGA83pin-0.7mm摄像头CMOS芯片测试座

SPECIFICATION
1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V
2、耐电压:For1 Minute At AC 700V
3、接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)
4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)
5、额定电流:1A max/Pin.
6、工作温度:-45°C ~+125°C
7、使用寿命:大于25,000 Times(Mechanical)
8、操作力:1.0Kg MAX(根据下针数量)
9、测试座结构:翻盖式
10、测试座材料:合金+PEEK
11、中心引脚间距:0.7mm
12、适配芯片尺寸:10*5.6mm

QFP芯片测试夹具

定制QFP128pin-0.8mm芯片测试座

QFP128pin-0.8mm芯片测试座产品特点及规格

Socket本体:合金+PEEK

Socket结构:旋钮双扣式

探针材料:铍铜

探针镀层:镍金

操作压力:2.OKGmin,pin数越多压力越大

接触阻抗:50mΩmax

耐压测试:700V AC for lminute

绝缘阻抗:1000m500V DC

最大电流:1A

使用温度:-45°C-+125*C

机械寿命:大于15000次(机械测试)

SSOP芯片老化测试夹具

定制SSOP20pin-0.5mm芯片老练插座

定制SSOP20pin-0.5mm芯片老化测试座参数:

绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

耐电压:For 1 Minute AtAC 700V

接触阻抗:30mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)

额定电流:1Amax/Pin.

工作温度:-45°C~+155°C

使用寿命:15,000 Times(Mechanical)

操作力:1.0Kg MAX

测试座结构:翻盖式

测试座材料:PEI+PEEK

TOLL功率器件测试座

定制TOLL9pin-1.2mm功率器件测试座

TOLL9pin功率器件测试座参数:

壳体材质:合金; 

含引脚尺寸:9.9*11.68mm

中心引脚间距:1.2mm

接触端子:进口铍铜,触点镀厚金 

高温性能: 

1.120℃-135℃,连续使用大于5000 小时; 

2.135℃-150℃,连续使用时长大于200 小时; 

机械性能:插拔次数20000次; 

额定电流:1A

每pin拔插力度:25g/ pin

芯片老化测试夹具

定制LGA88PIN-0.8mm老化插座-老化板

SPECIFICATION

1绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

2、耐电压:For1 Minute At AC 700V

3、接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)

4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)

5、额定电流:1A max/Pin.

6、工作温度:-45°C ~+155°C

7、使用寿命:20,000 Times(Mechanical)

8、操作力:1.0Kg MAX

9、中心引脚间距:0.8mm

10、适配模块尺寸:30*20mm

WLCSP6pin芯片测试座

定制WLCSP6pin-0.4mm芯片测试座

1. 微间距适配:探针需精准匹配0.35mm及以上间距的触点,同时避免相邻针尖短路

2. 温度适应性:工作温度范围需覆盖-55°C至120°C,以应对汽车电子/工业设备等严苛环境

3. 高可靠性:插拔次数需超过50万次,确保测试设备长期稳定运行.


CLCC48pin芯片测试socket

定制CLCC48-0.8mm芯片测试座

支持频率:≤200Mhz

温度范围:-45℃-125℃

操作力压:30g每pin,PIN越多需要压力越大

额定电流:单PIN1A max

接触电阻:≤50毫欧

绝缘电阻:DC500V 1000兆欧以上

机械寿命:>1.5万次

中心引脚间距:0.8mm

适配芯片尺寸:11*11mm

UFS153pin芯片测试座

定制UFS153(87pin)-0.5mm芯片测试座

UFS153pin存储芯片测试座参数:

实际下针87pin

绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

耐电压:For 1 Minute At AC 700V

接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mAand 20mV MAX.(Initial)

额定电流:1Amax/Pin.

工作温度:-55°C ~+125°C

最高测试速率:6Ghz(仅UFS高速测试),HS400/HS200

操作力:15~30g/Pin MAX

SOT89器件测试座

定制SOT89-3L-1.5mm器件测试座

SPECIFICATION

1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

2、耐电压:For 1 Minute AtAC 700V

3、接触阻抗:30mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)

4、额定电流:1Amax/Pin.

5、工作温度:-55°C~+175°C

6、测试座结构:合金翻盖式

7、器件尺寸:4*4.5mm

DDR4内存颗粒测试夹具

定制DDR4-BGA96ball笔记本内存颗粒测试治具

绝缘阻抗:1000mΩ Min.At DC 500V

耐电压:For 1 Minute AtAC 700V

接触阻抗:100mΩ MAX。 at 10mA and 20mV MAX.(Initial)

额定电流:1A max/Pin

工作温度:-55°℃ ~+155°C

最高测试速率:5800Mhz(仅DDR5高速测试)

操作力:15~30g/Pin MAX

支持封装:DDR4/BGA96ball

手机存储芯片规格参数:P0.8mm-9*15mm

整流二极管SMD测试座

定制SMD4pin-1.8mm整流二极管测试座

SPECIFICATION
1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V
2、耐电压:For 1 Minute At DC 500V
3、接触阻抗:50mΩ MAX。at 10mA and 20mVMAX.(Initial)
4、额定电流:1Amax/Pin.
5、工作温度:-45~155℃

UFS153pin芯片测试座

定制UFS153(87pin)-0.5mm芯片测试座

UFS153pin存储芯片测试座参数:

实际下针87pin

绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

耐电压:For 1 Minute At AC 700V

接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mAand 20mV MAX.(Initial)

额定电流:1Amax/Pin.

工作温度:-55°C ~+125°C

最高测试速率:6Ghz(仅UFS高速测试),HS400/HS200

操作力:15~30g/Pin MAX

3225-4pin晶振测试socket

定制晶振3225-4pin一拖十六工位测试座

3225-4pin晶振测试座参数:

支持封装:3225-4L晶振/DFN4pin

支持频率:≤1Ghz

温度范围:-40℃~125℃

操作力压:30g每pin,PIN越多需要压力越大

额定电流:单PIN 1A max

接触电阻:≤50毫欧

绝缘电阻:DC500V 1000兆欧以上

机械寿命:>1.5万次

2512电容测试座

定制2512-2pin-1.79mm多工位电容测试座

2512电容测试座参数:

绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

耐电压:For 1 Minute AtAC 700V

接触阻抗:50mΩ MAX。at 10mAand 20mV MAX.(Initial)

额定电流:1Amax/Pin.可过6A

工作温度:-45°C~+155°C


CLCC48pin芯片测试socket

定制CLCC48-0.8mm芯片测试座

支持频率:≤200Mhz

温度范围:-45℃-125℃

操作力压:30g每pin,PIN越多需要压力越大

额定电流:单PIN1A max

接触电阻:≤50毫欧

绝缘电阻:DC500V 1000兆欧以上

机械寿命:>1.5万次

中心引脚间距:0.8mm

适配芯片尺寸:11*11mm

SOT89器件测试座

定制SOT89-3L-1.5mm器件测试座

SPECIFICATION

1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

2、耐电压:For 1 Minute AtAC 700V

3、接触阻抗:30mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)

4、额定电流:1Amax/Pin.

5、工作温度:-55°C~+175°C

6、测试座结构:合金翻盖式

7、器件尺寸:4*4.5mm

TOLL功率器件测试座

定制TOLL9pin-1.2mm功率器件测试座

TOLL9pin功率器件测试座参数:

壳体材质:合金; 

含引脚尺寸:9.9*11.68mm

中心引脚间距:1.2mm

接触端子:进口铍铜,触点镀厚金 

高温性能: 

1.120℃-135℃,连续使用大于5000 小时; 

2.135℃-150℃,连续使用时长大于200 小时; 

机械性能:插拔次数20000次; 

额定电流:1A

每pin拔插力度:25g/ pin

芯片老化测试夹具

定制LGA88PIN-0.8mm老化插座-老化板

SPECIFICATION

1绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

2、耐电压:For1 Minute At AC 700V

3、接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)

4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)

5、额定电流:1A max/Pin.

6、工作温度:-45°C ~+155°C

7、使用寿命:20,000 Times(Mechanical)

8、操作力:1.0Kg MAX

9、中心引脚间距:0.8mm

10、适配模块尺寸:30*20mm

鸿怡电子HMILU品牌测试座在行业应用中的解决方案

鸿怡造·中国芯片检验方案服务标杆品牌卓越品质服务至上

cooperation

感恩前行23年来为众多客户提供优质服务

为加快半导体国产替代“芯进程”,鸿怡电子作为半导体测试/老化耗材的“第一梯队”,勇于担当,筑牢国产半导体自主测试“防线”,坚持“技术是根、创新是魂、人才为本”,并以“三个留人”理念(事业、待遇、文化)构建人才高地。

他们共同见证了鸿怡电子

走进鸿怡

二十三年前,深圳市鸿怡电子有限公司的董事长发现中国人一直都是用进口的测试座,价格非常昂贵且没有售后可言,于是萌生了一定要让中国人用上物美价廉的优质测试座的想法。公司经过23年发展,终于成为今天集科研、生产、销售于一体的技术密集型高新企业,在深圳--苏州--武汉都有生产工厂,占地面积超过五千平米...

鸿怡电子IC/芯片测试/老化耗材工程师:了解芯片测试座、测试夹具、测试治具

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芯片测试座、夹具、治具是芯片测试体系中不可或缺的三大核心器件,其中测试座是 “接触核心”,夹具是 “定位基础”,治具是 “功能延伸”。三者的协同配合,直接决定芯片测试的精度、效率与可靠性。鸿怡电子通过对三者的技术创新与一体化设计,不仅解决了...

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栅极驱动光耦:桥接电路的关键组件-光耦应用与IC测试座解决方案

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光耦作为电气隔离的 “安全卫士”,其性能可靠性直接决定电子系统的运行安全。在封装微型化、信号高频化、环境严苛化的趋势下,光耦测试座已从单纯的 “连接器件” 升级为 “质量筛选中枢”。鸿怡电子通过接触结构创新、极端环境适配与自动化融合,不仅解...

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MEMS传感器芯片应用与测试,如何选配“芯片与测试系统的桥梁”?

MEMS 传感器芯片测试座作为 “芯片与测试系统的桥梁”,需同时满足 “微结构无损伤接触、多物理量精准传导、复杂环境稳定适配” 三大核心需求,成为保障 MEMS 传感器出厂质量的关键环节。

查看详情2025-10-29