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贴片晶振测试夹具

贴片晶振测试座

5032晶振测试socket

5032晶振测试夹具

5032晶振测试座

定制5032（8PIN）-1.27 5X3.2X1.6晶振翻盖测试座

定制5032（8PIN）-1.27 5X3.2X1.6晶振翻盖测试座参数：

支持频率：≤1Ghz

温度范围：-40℃~125℃

操作力压：30g每pin，PIN越多需要压力越大

额定电流：单PIN 1A max

接触电阻：≤50毫欧

绝缘电阻：DC500V 1000兆欧以上

机械寿命：>1.5万次

服务热线： 13631538587

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深圳鸿怡电子生产定制5032（8PIN）-1.27 5X3.2X1.6晶振翻盖测试座产品简介

贴片晶振以及微小芯片测试座：

贴片晶振是一种封装形式为贴片的晶振器件。它通常采用表面贴装技术(SMT)封装，具有小尺寸、轻量、易于安装等特点。需要注意的是，测试时需要确保测试环境的稳定性，避免干扰信号对测试结果的影响。另外，如果晶振无法正常工作，可能是晶振本身故障或者外部电路问题，可以进一步检查和排除故障。

5032（8PIN）晶振规格参数

芯片图

定制5032（8PIN）-1.27 5X3.2X1.6晶振翻盖测试座图纸

座子图

定制5032（8PIN）-1.27 5X3.2X1.6晶振翻盖测试座产品展示

贴片晶振测试座
晶振测试socket
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10pin晶振测试座
5032晶振测试座

采购：定制5032（8PIN）-1.27 5X3.2X1.6晶振翻盖测试座

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