定制 QFN64 射频芯片测试座加接地铜块散热测试夹具老化座 socket

当前位置：首页 » 鸿怡电子产品中心 » 精密定制IC测试座 » QFN ic测试座 » 定制 QFN64 射频芯片测试座加接地铜块散热测试夹具老化座 socket

定制 QFN64 射频芯片测试座加接地铜块散热测试夹具老化座 socket详细信息/Detailed Information

prevnext

查看全部大图

定制 QFN64 射频芯片测试座加接地铜块散热测试夹具老化座 socket

性能参数：
工作频率：8GHZ@1DB；
工作温度：-55℃~155℃；
单PIN电流：1A；
功率：3W；
接触阻抗：≤100mΩ

订购热线：13631538587

产品详情

性能参数：
工作频率：8GHZ@1DB；
工作温度：-55℃~155℃；
单PIN电流：1A；
功率：3W；

接触阻抗：≤100mΩ

产品特点：
采用金属铜块散热的形式加快芯片散热；
采用翻盖式旋钮结构，压力均匀，不移位下压平稳接触稳定；
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠；
高精度的定位槽，保IC定位精确；
采用浮板结构有球无球均能测试；
测试探针可更换，维修方便，成本低；
采用KEEP+陶瓷工程绝缘材料制作；
最小可做到跳距pitch=0.35mm(引脚中心到中心的距离）；

QFN64测试座

射频芯片测试座

射频socket

射频芯片老化座

射频MCU测试夹具

QFN64工装夹具

鸿怡电子射频芯片测试座射频测试夹具射频ICsocket 高频测试工装夹具 QFN老化座 QFN高频测试座

采购：定制 QFN64 射频芯片测试座加接地铜块散热测试夹具老化座 socket

*联系人：
*手机：
公司名称：
邮箱：
电话：
您是从哪里找到我们的：
*采购意向：
*验证码：

跟此产品相关的产品 / Related Products

: LCC96pin-0.5mm合金翻盖式探针芯片测试座socket; LCC96pin芯片测试夹具规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:LCC
芯片引脚:96pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:12*16mm
接触介质:探针
测试座结构:翻盖式
测试座材料:合金+PEEK

: 蝶形模块44pin-0.8mm-25x24mm测试座socket; 蝶形模块44pin测试座规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
封装形式:蝶形管壳
模块引脚:44pin
模块引脚间距:0.8mm
适配尺寸:25*24mm
接触介质:探针
测试座结构:旋钮翻盖式
测试座材料:合金+PEEK

: WLCSP42pin-0.4mm塑胶翻盖式晶圆级芯片探针测试座socket; WLCSP42pin芯片测试夹具规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：WLCSP
芯片引脚：42pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：2.633*3.184mm
接触介质：探针
测试座结构：翻盖式
测试座材料：PEI+PEEK