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热搜关键词： 定制IC测试座 IC老化板 模块测试座 SSD-flash存储
DFN8pin芯片测试座参数：
本体尺寸：1.6*1.6mm
中心引脚间距：0.0.4mm
Socket壳体：PEI
测试座结构：翻盖式
接触PIN针：双头镀金探针
最大电流：1A
使用温度：-45°C-+125°C
老化寿命：大于3000小时
销售工程师：黄小二13622364332，huang@hydz999.com
| 适用规格 | 适用于DFN封装晶圆、芯片、器件等 |
| 支持频率 | ≤500Mhz |
| 温度范围 | -45℃-125℃ |
| 操作力压 |
35g每pin，PIN越多需要压力越大 |
| 额定电流 |
单PIN1A |
| 接触电阻 | ≤100毫欧 |
| 绝缘电阻 | DC500V1000兆欧以上 |
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QFN/DFN封装翻盖结构测试座 支持EEPROM，驱动器IC，电源IC等QFN封装,芯片测试座009系列.有翻盖式、旋钮翻盖式、双扣式、分离式结构、下压开窗结构适合自动机台 |
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DFN8老化测试插座
DFN8pin老化socket
DFN8pin老练夹具
DFN封装老化座
burn-in socket
DFN老化测试socket
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