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/16一、IC老化板核心作用与可靠性验证工况需求 1.核心作用 老化板是模拟产品在极限工况下长期运行的可靠性验证载体,核心价值在于: 早期失效筛选:通过高温、高压、高湿等应力加速缺陷暴露,剔除MTBF<10万小时的早期失效品(如芯片封装裂纹、焊点虚接)。 寿命预测:基于阿伦尼乌斯模型(加速因子AF=e^(Ea/k(1/...
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/14一、DDR存储芯片类型与特点 1. DRAM(动态随机存取存储器) 核心特点:基于电容电荷存储数据(1T1C结构),需定期刷新(64ms周期),密度高、成本低,用于主存。例如,DDR5-6400颗粒带宽达51.2GB/s,采用PRAC(逐行激活计数)技术防止过度激活。 技术演进: DDR4支持1.2V电压,DDR5引入400MHz基频、PAM4调制,单...
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/09近期充电宝召回事件(如某品牌召回超120万台产品)暴露出电池电芯与电源芯片可靠性测试的关键作用。这一事件的核心原因是上游电芯供应商某公司在生产过程中违规变更原材料(如正负极隔膜材料),导致电芯内部混入金属异物,多次充放电后可能引发热失控甚至燃烧。而电池电芯、电源管理芯片(PMIC)的可靠性测试不足...
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/07在半导体芯片从设计到量产的全流程中,芯片测试座的评估与测试是不可或缺的关键环节,其核心价值体现在以下几个方面: 一、设计验证阶段:确保功能与性能达标 1.原型功能验证 在芯片设计初期,工程师通过测试座连接原型芯片与测试设备,验证其逻辑功能是否符合设计预期。例如,使用Socket Phone等治具快速完成芯...
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/02在芯片技术飞速发展的当下,IC / 芯片的封装形式日益多样化,从传统的 DIP、SOP,到先进的 BGA、QFN 等,不同封装对测试验证工具提出了更高要求。鸿怡电子作为专业的 IC / 芯片测试座工厂,深耕行业多年,凭借强大的技术实力和丰富的生产经验,推出的芯片测试座、芯片老练夹具、芯片烧录座,能够精准适配多种封装...
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/30在芯片测试的复杂领域中,测试设备的性能优劣对测试结果起着决定性作用。随着芯片技术的飞速发展,芯片功能日益强大,结构愈发复杂,对测试设备提出了更高要求。其中,芯片测试座作为芯片与测试设备间的关键连接桥梁,其性能直接影响测试结果的准确性与可靠性。在众多芯片测试场景中,芯片 RF 测试、同轴测试以及...
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/25芯片测试座作为半导体测试流程里的关键部分,在连接芯片与测试设备中扮演着桥梁角色,承担着多项关键测试功能,对保障测试的精准性与可靠性意义重大。 物理连接与适配:芯片测试座负责将待测芯片与测试设备进行稳固且精准的对接。不同类型的芯片,如采用 BGA(球栅阵列)、QFN(方形扁平无引脚封装)、DFN(双边...
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/23(一)OBU 的定义与作用 OBU 即 On Board Unit 的缩写,中文名为车载单元,是车辆用于为各种应用传输和收集数据的微波设备 。在智能交通领域,尤其是不停车电子收费系统(ETC)中,OBU 发挥着核心作用。它通常安装于汽车的前挡风玻璃上,存有车辆的识别信息。当车辆通过收费站时,OBU 与路侧单元(RSU,Road Side...
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/18当下的国产芯片产业正奋力突围,力求在国际舞台上占据重要一席。而在这一征程中,芯片测试环节作为确保芯片质量与性能的关键关卡,其重要性不言而喻。芯片测试夹具作为连接芯片与测试设备的桥梁,以及测试连接器作为信号传输的关键纽带,二者共同构成了芯片测试系统的核心组件,对国产芯片产业的发展起着举足轻重...
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/16芯片测试座,作为半导体测试流程里的关键部分,在连接芯片与测试设备中扮演着桥梁角色,承担着多项关键功能,对保障测试的精准性与可靠性意义重大。 从物理连接层面看,芯片测试座负责将待测芯片与测试设备进行稳固且精准的对接。以常见的集成电路芯片(IC)为例,芯片测试座需要确保芯片上的每一个引脚都能与测试...