“鸿”业之愿于精密检测
“怡”心一意只为IC服务
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/07QFN老化测试座规格参数： 测试芯片封装类型：QFN 测试芯片引脚：16pin 测试引脚间距：0.5mm 测试芯片尺寸：3×3mm QFN封装芯片老化测试座 QFN16pin封装芯片老化测试要求： 老化测试温度：-40~+100 性能测试：测试电流：整体1A 测试回损：-20db@2GHZ 测试插损：-2db@2GHZ 测试温度：正常温度...
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/06LCC测试座、LCC老化座规格： 芯片封装类型：LCC 芯片引脚：24pin 芯片引脚间距：1.27mm 芯片尺寸：8.5×8.5mm IC老化测试座 LCC封装芯片老化测试要求： 测试温度：+150，无低温要求 测试时长：8000小时（持续温度150） 测试操作力：30每P 测试频率：-1db 3G 测试电流：1A（@150） 接触电阻：30毫欧 10m...
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/03最近很多朋友再问这个问题，不明白两者之间的关系，今天和大家浅聊一下，前面芯片设计那些流程就省略了，之前的文章也有提到过，可以翻看前面的内容！ 首先要明白芯片的封装类型有哪些？在过去，封装只是为了保护脆弱的硅芯片，并将其连接到电路板上。如今，封装通常包含多个芯片。随着减少芯片占用空间需求的增...
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/02目的：光电通信模块测试 名称：PLCC测试座、CLCC测试座 PLCC48pin封装芯片测试座规格： 芯片封装类型：CLCC、PLCC 芯片引脚：48pin 芯片引脚间距：1.0mm 芯片尺寸：16.4×16.4mm 芯片厚度：4.0mmCLCC封装芯片测试座 测试温度：-50~+100 测试时长：持续1000小时左右 测试频率：1MHZ 测试速率：单通道速率（3G...
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/31IC测试座（IC socket）在2000年以前，芯片封装测试硬件（IC老化座、IC烧录座、IC测试座以及非标的加工定制测试座、开模定制测试座，还有芯片测试夹具、芯片测试架、芯片测试治具等）一直被国外的厂商所垄断，进口价格非常昂贵且没有售后可言。 国外主要两家品牌公司： 1、恩普乐斯(Enplas)：日本企业，主要以工程...
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/14 本期主要介绍如何通过探针测试座来对PCB模块进行功能测试，通过如下案例介绍
1、客户需求：PCB模块来料，人工手动检测，PCB已经贴片通过测试金手指焊盘导通测试。
2、模块规格：测试圈出的17个pin点，外形尺寸29*29mm 间距1.54mm。
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/30 鸿怡电子IC老化座/老炼座/老化测试socket
IC烧录座/编程座/快速夹/读写座/清空座
IC测试座/测试座socket/测试插座
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/22电子集成技术的三个层次中，PCB的尺度最接近人类自身的尺度。PCB从诞生到现在，依然在半导体中扮演着重要的角色。 在众多的行业PCB集成模块测试案列中，鸿怡电子匹配比较常见的且稳定的探针测试座进行测试，反馈测试良率高且稳定，操作极为便捷！ 定制PCB集成模块54PIN-1.1_22×17合金翻盖探针测试座...
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/21晶振老化座简介 一、用途:老化座、测试座，对7050(7.0*5.0)的IC芯片进行高低温老化测试 二、适用封装: 7050(7.0*5.0)-4PIN贴片晶振 三、探针结构，接触稳定、体积小。 四、采用特殊的工程塑胶，强度高、寿命长 五、镀金层加厚，触点加厚电镀，超低接触阻抗、高可靠度，使用寿命（翻盖结构20000次） 六、鸿怡电...
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/16IC芯片测试座具有操作简单、故障定位准确、方便快捷、测试良率高等特点。简单描述就是一款连接芯片与PCB板的连接器插座； IC芯片测试座主要有3种作用： 1、来料检测：买回来IC使用时，有时会进行质量检验，发现不良产品，然后进行改进SMT的良率。IC芯片肉眼看不到质量，需要通电导通测试，常用方法检测IC芯片无...
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