第三代半导体:SiC和GaN测试与应用,鸿怡电子半导体功率器件测试座的角色 随着新能源汽车、5G基站、数据中心等领域的快速发展,第三代半导体材料碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN)凭借其优异的物理特性,正在逐步取代传统硅基功率器件。本文将从SiC/GaN模块的性能优势、测试...
突破微间距:鸿怡电子开尔文弹簧探针结构在WLCSP芯片测试座中的创新应用 随着半导体封装技术向高密度、微型化发展,晶圆级芯片封装(WLCSP)因其体积小、性能优的特点,成为消费电子、汽车电子等领域的主流选择。然而,WLCSP芯片的触点间距缩至0.35mm甚至更低,对测试...
HMILU品牌国产芯片测试座极限参数解析:100GHz高频与百安级电流的技术突破 一、主流封装芯片类型与测试需求 国产芯片测试座需适配多种封装形式,不同封装对测试参数提出差异化要求: 1. BGA(球栅阵列封装) 特点:高密度焊球(0.4mm间距)、优异散热性,适用于GPU、...
加快国产存储芯片替代:鸿怡HMILU芯片测试座是如何提高EMMC芯片测试良率? 存储芯片测试座是如何提高EMMC封装系列芯片测试良率的 EMMC封装存储芯片的系列与BGA封装特性 存储芯片中主流EMMC封装系列 EMMC(Embedded MultiMediaCard)采用BGA(Ball Grid Array)封装,通...
鸿怡电子带您分析L3级智能驾驶技术:如何用IC/芯片测试座帮您验证汽车有条件自动化驾驶安全 L3级自动驾驶对车规芯片的核心要求 L3级自动驾驶(有条件自动化)要求芯片在复杂场景中实现实时决策与控制,其车规级芯片需满足: 1.功能安全:符合ASIL-D标准(ISO 26262),单点故障率<10 ...
国产汽车电子:如何用IC测试座提高车规传感器芯片/模块测试良率 汽车传感器芯片/模块的核心特点与场景 汽车电子传感器作为智能驾驶与电气化转型的核心部件,需满足严苛工况下的性能要求: 1.高环境耐受性:工作温度覆盖-40℃~150℃(如发动机缸压传感器);...