“鸿”业之愿于精密检测
“怡”心一意只为IC服务
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加快国产存储芯片替代：鸿怡HMILU芯片测试座是如何提高EMMC芯片测试良率？ 存储芯片测试座是如何提高EMMC封装系列芯片测试良率的 EMMC封装存储芯片的系列与BGA封装特性 存储芯片中主流EMMC封装系列 EMMC（Embedded MultiMediaCard）采用BGA（Ball Grid Array）封装，通...
鸿怡电子带您分析L3级智能驾驶技术：如何用IC/芯片测试座帮您验证汽车有条件自动化驾驶安全 L3级自动驾驶对车规芯片的核心要求 L3级自动驾驶（有条件自动化）要求芯片在复杂场景中实现实时决策与控制，其车规级芯片需满足： 1.功能安全：符合ASIL-D标准（ISO 26262），单点故障率＜10 ...
国产汽车电子：如何用IC测试座提高车规传感器芯片/模块测试良率 汽车传感器芯片/模块的核心特点与场景 汽车电子传感器作为智能驾驶与电气化转型的核心部件，需满足严苛工况下的性能要求： 1.高环境耐受性：工作温度覆盖-40℃~150℃（如发动机缸压传感器）；...
鸿怡电子资深工程师带您了解半导体分立器件测试座核心技术及行业应用解析 半导体分立器件（如二极管、MOSFET、IGBT、晶闸管等）是电力电子系统的基石，广泛应用于新能源、工业控制、汽车电子等领域。其性能直接影响系统效率与可靠性，而测试座（Test Socket）、老化座（...
IC测试工程师：分解QFN封装芯片测试座核心技术-深圳鸿怡电子 QFN封装芯片的特点与适用场景 QFN（Quad Flat No-lead）封装凭借无引脚设计、底部大面积裸露焊盘，成为高密度小型化电子产品的优选方案。其核心优势包括： 1. 体积轻薄：封装高度低至0.8mm，适...
什么是芯片老化测试？芯片老化测试时长与标准，芯片老化测试座的作用 芯片作为电子设备的核心部件，其性能和稳定性直接影响到整个系统的可靠性。为了确保芯片的持久性能和稳定运行，芯片老化测试成为必不可少的过程。本文将深入解析芯片老化测试的定义、测试标准、...
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