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OPEN TOP烧录座

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定制QFN32-0.5(5x5)烧录座open top

QFN32pin芯片测试座参数：

适配IC尺寸：5*5*0.85mm

间距：0.5mm

结构：OPEN TOP

Socket壳体：PEI+PEEK

频率：≤2.4Ghz

最大电流：1A

使用温度：-45°C-+125°C

机械寿命：大于80000次(机械测试)

销售工程师：黄小二13622364332(VX同步)

邮箱：huang@hydz999.com

服务热线： 13631538587

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鸿怡电子生产的QFN32pin-0.5mm-5*5*0.85mm芯片老化测试座产品介绍

适用规格	16-88pin，0.4、0.5、1.27引脚间距QFN/LCC封装的IC
支持频率	≤2.4Ghz
温度范围	-45℃-125℃
操作力压	35g每pin，PIN越多需要压力越大
额定电流	单PIN1A
接触电阻	≤100毫欧
绝缘电阻	DC500V1000兆欧以上
QFN/DFN封装、有的也称为LCC、翻盖式结构测试座支持EEPROM，驱动器IC，电源IC等QFN封装,芯片测试座009系列.有翻盖式、旋钮翻盖式、双扣式、分离式结构、下压开窗结构适合自动机台

QFN32pin-0.5mm芯片图纸

resource/images/2be92328d977422cbd86c9f56f3f8545_14.jpg

QFN32pin-0.5mm芯片老化测试座图纸

resource/images/2be92328d977422cbd86c9f56f3f8545_16.jpg

QFN32pin-0.5mm芯片老化测试座产品展示

oepn top socket
QFN32烧录座
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采购：定制QFN32-0.5(5x5)烧录座open top

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