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热搜关键词： 定制IC测试座 IC老化板 模块测试座 SSD-flash存储
老化座特性：定制探针式，接触稳定寿命高，易维修。
HAST寿命： +130℃@85%RH，≥500小时
支持定制：BGA, QFN, DFN, LGA, QFP, SOP.TO,SMD等器件封装应用于HTOL,LTOL,HAST,HTRB,HTGB,H3TRB.大功率老化等各种Bun-in场景老化测试板-(Burn-in Board)助力企业降本增效 提高产品测试良率
销售工程师：黄小二13622364332（vx同号）
邮箱huang@hydz999.com
| 适用 | DFN14PIN封装芯片 |
| 座子 | 翻盖>适用于间距0.3mm-2.54mm |
| 测试座材料 | PEI+30%纤 |
| 座头材料 | PEI+30%纤 |
| 导电材质 | 镀金探针 |
| 工作温度 | -55度~+150度 |
| 老化寿命 | +130℃ 85%RH 500H |
| 电流 | 1A |
| 电压 | 700V |
| 电阻 | 100毫欧 |
HAST老化板
HAST试验PCB板
THB双85试验夹具
BHAST老化方案
hast老化夹具
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