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热搜关键词： 定制IC测试座 IC老化板 模块测试座 SSD-flash存储
1：适用于QFN40封装，0.5间距，6x6尺寸芯片高低温老化试验。
2：单块板子设计50工位socket，同步老化50颗芯片。
3：支持环境温度：-45℃~+125℃。
4：老化试验寿命：≥5000小时。
5：支持定制各种IC/芯片封装的 HTRB HTGB H3TRB HAST IOL老化板Burn‑in Board，助力企业降本增效 提高产品测试良率
销售工程师：黄小二13622364332（VX同步），huang@hydz999.com
| 适用IC | QFN40-0.5（6x6）封装芯片HTOL老化试验 |
| 座子类型 | OPEN TOP |
| 测试座材料 | PEI |
| 座头材料 | PEI |
| 导电材质 | 铍铜镀镍镀金 |
| 工作温度 | -50℃~+155℃ |
| 座子寿命 | >5000小时 |
| 额定电流 | 1A |
| 电压 | 500v |
| 电阻 | 100MΩ以下老化时长:>5000H |
Burn‑in Board
QFN40老化板
QFN burn-in socket
QFN40老化夹具
芯片老化试验PCB板
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