老化板定制

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SOT220-3L老化试验板

SOT220 HTOL老化板

定制HTOL老化板

Burn‑in Board

SOT芯片老化板

HTRB老化PCB

定制SOT/TO220-3L-HTOL老化试验板

适用于TO‑220老化板,多用于 MOS 管、三极管、稳压管等功率分立器件高温老化筛选。

板上排布多只 TO‑220 老化测试座(Socket),批量安装 TO‑220 封装功率器件;提供电源、偏置电压、负载回路,给待测管子施加规定电压、电流应力。

配合高温老化箱,在高温(通常 100‑150℃)环境下长时间通电加载应力,加速激发芯片内部缺陷:栅氧缺陷、晶圆瑕疵、封装漏电、键合不良等,把 “早期容易坏” 的器件提前测坏筛掉,符合浴盆曲线筛选逻辑。

支持定制各种IC/芯片封装的 HTRB HTGB H3TRB HAST IOL老化板(Burn-in Board)。

销售工程师:黄小二13622364332(VX同步),huang@hydz999.com


服务热线: 13631538587

核心功能

  1. 器件承载与电气连接 板上排布多只 TO‑220 老化测试座(Socket),批量安装 TO‑220 封装功率器件;提供电源、偏置电压、负载回路,给待测管子施加规定电压、电流应力。
  2. 加速老化、筛除早期失效(最主要) 配合高温老化箱,在高温(通常 100‑150℃)环境下长时间通电加载应力,加速激发芯片内部缺陷:栅氧缺陷、晶圆瑕疵、封装漏电、键合不良等,把 “早期容易坏” 的器件提前测坏筛掉,符合浴盆曲线筛选逻辑。

常用测试项目:HTGB 高温栅偏、HTRB 高温反偏、HTOL 高温工作寿命,车规 / 工业功率器件必做。

  1. 批量并行老化,提升测试效率 一块老化板同时老化几十颗 TO‑220 器件,多块板放进老化箱,实现量产可靠性筛选,不用单颗测试。
  2. 散热与保护 TO‑220 功率管发热大,老化板设计散热路径;部分版本带限流、防炸管保护,避免一颗器件短路连累整板其他样品。
  3. 可靠性验证,获取数据 用来评估器件长期工作稳定性,拿到失效数据,反馈给芯片设计、封测做改进;车规、工业电源器件认证使用。

简单工作流程

待测 TO‑220 器件→压入老化座→老化板接入老化系统→放入高温箱→按规范长时间通电应力测试→测试结束后再复测电参数,失效的剔除,合格的流出。

和普通 PCB 区别

老化板本身要耐受长期高温、持续偏压,选用耐高温板材、低阻抗线路,不是普通电路板,专门用于可靠性应力测试,不做产品功能使用。

产品展示
  • resource/images/6bffb572dfac446eb73cfe7c82e53be4_16.jpgHAST老化PCB板
  • resource/images/6bffb572dfac446eb73cfe7c82e53be4_18.jpg芯片HAST老化板
  • resource/images/6bffb572dfac446eb73cfe7c82e53be4_20.jpgTO247-4L芯片老炼测试板
  • resource/images/6bffb572dfac446eb73cfe7c82e53be4_22.jpgHMILU老化板方案
  • resource/images/6bffb572dfac446eb73cfe7c82e53be4_24.jpg芯片老化板方案
采购: 定制SOT/TO220-3L-HTOL老化试验板
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0755-83587595