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定制DFN46-0.4(4.5x6.5)翻盖老化座socket

DFN46-0.4mm封装测试座参数：

本体尺寸：4.5x6.5mm

中心引脚间距：0.40mm

Socket壳体：PEI

测试座结构：翻盖式

探针材料：铍铜

探针镀层：镍金

接触阻抗：100mΩ

耐压测试：700V AC for 1minute

绝缘阻抗：1000mΩ 500V DC

最大电流：1A

使用温度：-45°C-+125°C

机械寿命：大于80000次(机械测试)

销售工程师：黄小二13622364332(vx同步)

邮箱：huang@hydz999.com

服务热线： 13631538587

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鸿怡电子生产定制的定制DFN46-P0.4（4.5x6.5）塑胶翻盖老化座（产品介绍）

适用规格	适用于DFN封装晶圆、芯片、器件等
支持频率	≤300Mhz
温度范围	-45℃-125℃
操作力压	35g每pin，PIN越多需要压力越大
额定电流	单PIN1A
接触电阻	≤100毫欧
绝缘电阻	DC500V1000兆欧以上
QFN/DFN封装翻盖结构测试座支持EEPROM，驱动器IC，电源IC等QFN封装,芯片测试座009系列.有翻盖式、旋钮翻盖式、双扣式、分离式结构、下压开窗结构适合自动机台

DFN8-P0.4（4.5x6.5）芯片规格参数

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DFN8-P0.4（ 4.5x6.5）老化座图纸

resource/images/279907687ff74e4d92fcee571cb58959_16.jpg

DFN8-P0.4（ 4.5x6.5）老化座产品展示

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采购：定制DFN46-0.4(4.5x6.5)翻盖老化座socket

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