定制LCC16-0.65(5.5x6)HTOL老化座socket

芯片老化座（也叫老化测试座、Burn-in Socket），是芯片老化测试工序专用的连接器，主要用于半导体可靠性筛选。 LCC 封装芯片老化座作用简介LCC（无引脚陶瓷芯片载体）老化座，也叫 LCC 老炼插座，是专门适配LCC 无引脚封装芯片的老化测试专用 Socket，放置在老化板上，是芯片 HTOL 高温工作寿命、加速老化筛选的核心接口夹具。

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鸿怡电子生产定制LCC16-0.65(5.5x6)HTOL老化座产品简介

LCC（无引脚陶瓷芯片载体）老化座，也叫 LCC 老炼插座，是专门适配LCC 无引脚封装芯片的老化测试专用 Socket，放置在老化板上，是芯片 HTOL 高温工作寿命、加速老化筛选的核心接口夹具。

核心作用
1. 可靠电气连接，免焊接
把 LCC 芯片侧边焊盘与老化电路板稳定连通，无需焊接芯片；依靠精密探针 / 弹片接触，长期高温下保持稳定接触电阻，持续供电、施加信号，完成长时间老化应力测试，测试完成后可快速取下芯片，芯片可复用或分选。
2. 加速老化筛选（最主要用途）
配合老化箱，在**高温、额定电压等加速应力条件下长时间通电运行（几百至上千小时），提前激发芯片内部潜在缺陷，筛除早期失效芯片，剔除工艺、材料隐性不良，提升车规 / 工业 / 军品芯片出厂可靠性。
3. 宽温环境适配
耐高温特种塑胶 + 铍铜镀金接触结构，可承受 - 40~150℃甚至更高的长期高温，在持续高温老化、温度循环测试中，减少热胀冷缩带来的接触失效，适配 AEC-Q100、MIL 等可靠性验证标准。
4. 保护芯片 + 标准化定位
精准限位 LCC 芯片，压盖 / 翻盖结构提供均匀下压压力，避免压碎陶瓷封装、损伤侧边焊盘；支持多工位老化板批量放料，量产老化测试、实验室可靠性验证都可使用。