您当前的位置： 首页 > 产品频道 > LCC/CLCC封装系列 > 定制LCC14-1.27(6x6)老化座socket

LCC14-1.27老化插座

LCC陶封老化座

LCC老化夹具

burn-in socket

LCC测试座

LCC老炼socket

定制LCC14-1.27(6x6)老化座socket

LCC14封装老化座：

封装：LCC14

间距：1.27mm

尺寸：6*6mm

老化温度：-45℃~+125℃

老化寿命：＞5000小时

socket材质：PEI+PEEK

接触pin：pogoPIN

销售工程师：黄小二13622364332，huang@hydz999.com

服务热线： 13631538587

在线咨询

鸿怡电子生产的定制LCC14-1.27(6x6)老化座socket产品简介

LCC 封装‌全称是‌无引脚芯片载体‌（Leadless Chip Carrier），是一种‌没有外露引脚、通过底部边缘金属化焊盘直接焊接在电路板上的表面贴装封装‌。它体积紧凑，电气性能好，适合高频高速电路，常用于军工、航天和通信设备。

主要应用领域

因为可靠性高、体积小，LCC 封装主要用在那些对空间和性能要求苛刻的地方。

‌军品与航空航天‌：陶瓷 LCC 耐高温、抗辐射、抗振动，常用于卫星通信、导弹制导等严苛环境。
‌无线通信与射频‌：在 5G 射频模块、物联网设备、无线传感器中，利用其低寄生参数保证信号完整性。
‌汽车电子‌：用于发动机控制单元（ECU）、传感器等，需通过车规级温度循环测试（-55℃~125℃）。
‌光模块与存储‌：部分高速光模块采用 LCC 封装以实现极致小型化，内存模块也有采用无引线端子设计。‌‌

LCC14-1.27(6x6)芯片图纸

resource/images/7c2128383dff4bdf93373500895028b4_16.jpg

LCC14-1.27(6x6)芯片老化座图纸

resource/images/7c2128383dff4bdf93373500895028b4_18.jpg

LCC14-1.27(6x6)芯片老化座产品展示

LCC老化座
LCC封装老化插座
LCC芯片老化夹具
burn-in socket
LCC测试座
LCC老炼socket

采购：定制LCC14-1.27(6x6)老化座socket

热品推荐 / Hot product

: 定制LCC14-1.27(6x6)老化座socket

: 定制emmc153-0.5-11.5x13测试治具

: 定制DFN8-8x8独立加热温控测试座

定制LCC14-1.27(6x6)老化座socket

热品推荐 / Hot product

定制LCC14-1.27(6x6)老化座socket

定制emmc153-0.5-11.5x13测试治具

定制DFN8-8x8独立加热温控测试座

鸿怡电子产品中心

非标定制测试座

现货标准品

QFN/DFN封装系列

BGA封装系列

QFP/OTQ封装系列

SOP/OTS封装系列

TO封装系列

LGA封装系列

WLCSP封装系列

LCC/CLCC封装系列

EMMC/EMCP/UFS

SOT封装系列

LPDDR-GDDR-DDR系列

SMA/SMB/SMD系列

SSD-flash存储系列

有源/无源晶振系列

电阻电容电感系列

模块测试座

IGBT和新能源系列

军品/科研/航空

IC/芯片老化板

连接器测试微针模组

推荐资讯

鸿怡电子工程师:芯片测试座是决定芯片能不能“测得过得”的守门工具

BGA441pin芯片测试座是如何保障芯片接触稳定性、信号完整性、耐高温的

芯片到底在测什么？芯片测试座又该如何选配—鸿怡电子IC测试座工程师为您解惑

微间距传感器芯片的可靠性测试：鸿怡电子0.05mm间距时代的工程测试挑战

LGA72pin算力供电芯片大电流测试座烧针解决方案

光电器件测试：COB光源为什么越来越“难测”？鸿怡电子光电器件SMD测试座解决方案

AI算力供电芯片测试座/老化座：从国产替代-非标定制-标准品落地-鸿怡HMILU测试座整套解决方案

鸿怡HMILU测试socket工程师：LPDDR4完整性测试从连通性到应力压测的五步验证体系

万物应用：柔性电路板FPC连接器-从FPC连接器参数到测试微针模组的多场景应用

DC~DC电源芯片多封装应用与测试-HMILU电源芯片测试座socket适配

深圳市鸿怡电子有限公司0755-83587595