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定制QFN64翻盖探针测试治具测试架测试座socket详细信息/Detailed Information

定制QFN64翻盖探针测试治具测试架测试座socket

产品简介:
设计方式:利用客户测试主板上面原有的孔位设计限位及固定、空间占比低,更换简单易维修。
性能参数:频率2.5Gbps
提供三个月免费保修(人为损坏除外)。
保修期外,免费维修,如果需换件,只收材料成本费。
可以免费提供相关的技术支持。
订购热线:13631538587
立即咨询
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越大;
⑦接触电阻:<100mΩ;
⑧环境温度:-55℃~175℃;

⑨机械寿命:100000;

QFN64 socket

QFN64测试架

QFN64测试座

MCU测试架

采购:定制QFN64翻盖探针测试治具测试架测试座socket

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芯片引脚:8pin
引脚中心间距:1.27mm
适配芯片尺寸:3.8*3.8mm
接触介质:探针
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适配芯片尺寸:7*7*0.75mm
接触介质:探针
老化座结构:翻盖式
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芯片引脚:121pin
芯片引脚间距:0.65mm
适配芯片尺寸:8*8mm
接触介质:探针
烧录座结构:翻盖式
烧录座材料:PEI+PEEK

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