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QFN96pin-0.4mm-11x11mm合金翻盖探针芯片测试座
QFN96pin芯片测试座
socket
规格参数:
生产品牌:HMILU
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:96pin
芯片引脚间距:0.4mm
适配芯片尺寸:11*11mm
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射频模块36pin-1.5/2.0mm-35x30x3.7mm合金翻盖测试座
射频模块测试
socket
规格参数:
生产品牌:HMILU
射频模块引脚:36pin
射频模块引脚间距:支持1.5/2.0mm
适配模块尺寸:35*30mm
射频模块厚度:3.7mm
更多 +
CQFP64pin-1.0mm-18.4x18.4mm塑胶翻盖旋钮探针芯片老化座
CQFP64pin芯片老化测试座
socket
规格参数:
生产品牌:HMILU
芯片封装形式:CQFP
芯片引脚:64pin
芯片引脚间距:1.0mm
适配芯片尺寸:18.4*18.4mm
更多 +
模块20pin-2.5mm-28x28mm合金翻盖测试座
socket
模块20pin测试座
socket
规格参数:
生产品牌:HMILU
模块引脚:20pin
模块引脚间距:2.5mm
适配模块尺寸:28*28mm
更多 +
PLCC28pin-0.6mm-6.5x6.5mm合金旋钮翻盖芯片测试座
LCC28pin芯片测试座
socket
规格参数:
生产品牌:HMILU
芯片封装形式:LCC
芯片引脚:28pin
芯片引脚间距:0.6mm
适配芯片尺寸:6.5*6.5mm
更多 +
BGA452pin-0.65mm-14.5x14.5mm合金翻盖旋钮芯片测试座
BGA452pin芯片测试座
socket
规格参数:
生产品牌:HMILU
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:452pin
芯片引脚间距:0.65mm
适配芯片尺寸:14.5*14.5mm
更多 +
BGA452pin-0.65mm-14.5x14.5mm合金翻盖旋钮芯片测试座
BGA452pin芯片测试座
socket
规格参数:
生产品牌:HMILU
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:452pin
芯片引脚间距:0.65mm
适配芯片尺寸:14.5*14.5mm
更多 +
FBGA441pin-0.8mm-17.2x17.2mm塑胶旋钮翻盖芯片测试座
FBGA441pin芯片测试座
socket
规格参数:
芯片测试座生产品牌:HMILU
芯片封装形式:FBGA
芯片引脚:441pin
芯片引脚间距:0.8mm
适配芯片尺寸:17.2*17.2mm
更多 +
BGA752pin-0.65mm-19x19mm合金旋钮翻盖芯片测试座
BGA752pin芯片测试座
socket
规格参数:
生产品牌:HMILU
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:752pin
芯片引脚间距:0.65mm
适配芯片尺寸:19*19mm
更多 +
BGA488pin-1.9mm-51×51mm合金双扣旋钮芯片测试座—加散热铜块、风扇
BGA488pin芯片测试座
socket
规格参数:
生产品牌:HMILU
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:488pin
芯片引脚间距:1.9mm
适配芯片尺寸:51*51mm
更多 +
QFN80pin-0.35mm-8×8mm合金翻盖探针测试座
socket
QFN80pin芯片测试夹具规格参数:
生产品牌:HMILU
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:80pin
芯片引脚间距:0.35mm
适配尺寸:8*8mm
更多 +
5032-10pin塑胶翻盖晶振测试座
socket
5032-10pin晶振测试座规格参数:
生产品牌:HMILU
晶振型号:5032
晶振引脚:10pin
晶振引脚间距:1.0mm
适配尺寸:5.0*3.2mm
更多 +
模块15pin-2.0mm-12.2×12.9mm塑胶翻盖测试座
模块15pin测试座
socket
规格参数:
生产品牌:HMILU
模块引脚:15pin
模块引脚间距:2.0mm
适配模块尺寸:12.2*12.9mm
更多 +
邮票孔模块109pin-1.1mm-17.7x15.8mm合金旋钮探针测试座
邮票孔模块109pin测试座
socket
规格参数:
生产品牌:HMILU
模块引脚:109pin
模块引脚间距:1.1mm
适配邮票孔模块尺寸:17.7*15.8mm
更多 +
定制QFN32pin-1.0mm-12x12mm合金旋钮翻盖芯片测试座
socket
QFN32pin芯片测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:32pin
芯片引脚间距:1.0mm
适配芯片尺寸:12*12mm
更多 +
定制BGA64pin-0.4mm-4.4x4.05mm塑胶翻盖探针芯片测试座
socket
BGA64pin芯片测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:64pin
芯片引脚间距:0.4mm
适配芯片尺寸:4.4*4.05mm
更多 +
高温高湿HAST/HTOL实验TO252-5L老化板
TO252-5L老化板+老化座
品牌:HMILU
封装类型:TO252
适用于:HAST/HTOL测试,高温高湿测试
burn in test
socket
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定制探测插针器件40PIN-1.27mm-22x22mm翻盖合金探针测试座
探测器件40pin测试座
socket
规格参数:
器件引脚:40pin
器件引脚间距:1.27mm
器件尺寸:22×22mm
接地:3pin
更多 +
定制传感器模块7pin-1.0mm-6.6x2.9mm塑料翻盖弹片测试座
传感器模块弹片测试座规格参数:
模块引脚:7pin
引脚间距:1.0mm
模块尺寸:6.6×2.9mm
更多 +
定制QFN96-0.35 10x10翻盖合金探针测试座
1、工作温度:-55℃~125℃@3000h;
2、针板材质:陶瓷peek;外壳材质:铝合金;
3、探针镀覆:3μ" Au over 50-100μ" Ni(鍍金3μ",鎳底50~100μ");
4、单PIN额定电压&电流:直流12V&1.0A;
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