- [鸿怡动态]半導體器件為何要做老化測試？怎樣做芯片的老化？2022年06月21日 16:02
- 老化是有源器件在封裝過程中必不可少的一個環節， 不管是什麼類型器件，TO\CQFN\QFP\各類模塊等都有不同的老化要求和方法。 ★ 芯片為什麼要做老化測試？ 我們都知道，可靠性較低的器件在使用早期暴露缺陷，產生失效，渡過早期失效期后，器件性能進入穩定期。此時以隨機失效為主，失效率隨之較低。經歷漫長的穩定期后，器件接近其使用壽命，失效率再次被提升。 而芯片老化試驗的過程就是將可能發生早期失效的產品篩選出來，并使可靠的產品性能迅速進入穩定期。老化是全部芯片必須經歷的一道考
-
阅读（95）
标签：
- [鸿怡动态]IC老化一站式服务，请选择鸿怡电子2022年06月14日 11:24
- 电子时代，随着电子产品更新叠代速度的加快，消费者对产品的挑剔不仅仅局限于产品的外观，对电子产品内在的质量、稳定性也有了诸多要求。一颗好的芯片在电子产品中如同心脏一般起着至关重要的作用。芯片的好坏，直接影响着电子产品的使用寿命。 当前芯片在封装好出厂前，芯片厂商都还会再进行严密的老化试验，一般的老化试验会根据芯片的应用场景不同，包括HTOL高低温加速老化和HAST的温湿度老化测试。 加速老化HTOL【High Temperature Operating Life】，即在高温
-
阅读（39）
标签：QFN系列
- [鸿怡动态]QFN32-0.5芯片测试座_翻盖弹片老化座_编程座2021年10月18日 11:29
- 工厂介绍 鸿怡电子生产QFN32-0.5芯片测试座_翻盖弹片老化座_编程座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。 产品简介产品用途：编程座、测试座，对QFN32的IC芯片进行烧写、测试适用封装：QFN32引脚间距0.5mm测试座：QFN32-0.5特点：底部引出引脚为不规则排列 规格尺寸QFN32编程座/测试座适用芯片详细规格，以及适配座外形尺寸：
-
阅读（44）
标签：DFN8|QFN系列|车规芯片老化测试座|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座
- [鸿怡动态]QFN52老化座_0.4间距芯片测试座_编程座2021年10月12日 12:01
- 工厂介绍鸿怡电子生产QFN52老化座_0.4间距芯片测试座_编程座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧 录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等 产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN52的IC芯片进行老化、测试适用封装:QFN52引脚间距0.4mm测试座:QFN52-0.4 特点:采用U型顶针，接触更稳定 规格尺寸 型号:QFN52-0.4引脚间距(mm):0.4脚位:52 适
-
阅读（42）
标签：QFN系列|DFN8|产品|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|车规芯片老化测试座
扫一扫
