QFN56老化座_0.4间距芯片测试座_翻盖编程座_IC550-0564-010-G

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浏览：- 发布日期：2021-10-13 10:04:56【大中小】

工厂介绍

鸿怡电子生产QFN56老化座_0.4间距芯片测试座_翻盖编程座_IC550-0564-010-G，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等

QFN56-0.4间距芯片测试座

产品简介

产品用途:编程座、测试座，对QFN56的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN56引脚间距0.4mm

测试座:QFN56-0.4

特点:采用U型顶针，接触更稳定

规格尺寸

型号:QFN-56-0.4

引脚间距(mm): 0.4

脚位:56

适配芯片尺寸:7*7mm

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