QFN52老化座_0.4间距芯片测试座_编程座

来源：鸿怡电子查看手机网址

扫一扫!

扫一扫!

浏览：- 发布日期：2021-10-12 12:01:07【大中小】

工厂介绍

鸿怡电子生产QFN52老化座_0.4间距芯片测试座_编程座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧

录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等

QFN芯片老化座

产品简介

产品用途:编程座、测试座，对QFN52的IC芯片进行老化、测试

适用封装:QFN52引脚间距0.4mm

测试座:QFN52-0.4

特点:采用U型顶针，接触更稳定

QFN52编程老化测试座

规格尺寸

型号:QFN52-0.4

引脚间距(mm):0.4

脚位:52

适配芯片尺寸: 7*7mm

QFN52-0.4间距芯片老化测试座

HMILU-QFN64pin-0.5mm-9x9mm合金翻盖芯片测试座

QFN64pin芯片测试座socket规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形...
5032-10pin塑胶翻盖晶振测试座socket

5032-10pin晶振测试座规格参数：
生产品牌：HMILU
晶振型号：5032
晶振引脚...
QFP32pin-0.8mm-7*7mm翻盖老化测试座

QFP32pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：32pin
芯片引脚...
SSD内存DDR3测试夹具

SSD内存测试夹具 DDR3测试治具 DDR3 socket 翻盖探针socket
翻盖探针设计，小巧，方便...
新品 QFN8-1.27(5*6)下压探针芯片测试老化座

工厂大量现货，QFN8-1.27下压式探针IC测试座（不带板）欢迎来电咨询！