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QFN52老化座_0.4间距芯片测试座_编程座
QFN52老化座_0.4间距芯片测试座_编程座
来源:鸿怡电子
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发布日期:2021-10-12 12:01:07【
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工厂介绍
鸿怡电子生产QFN52老化座_0.4间距芯片测试座_编程座,同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧
录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等
产品简介
产品用途:编程座、测试座,对QFN52的IC芯片进行老化、测试
适用封装:QFN52引脚间距0.4mm
测试座:QFN52-0.4
特点:采用U型顶针,接触更稳定
规格尺寸
型号:QFN52-0.4
引脚间距(mm):0.4
脚位:52
适配芯片尺寸: 7*7mm
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QFN52-0.5老化座_芯片测试座_编程座_IC550-0524-010-G
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