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QFN44-0.4芯片测试座_翻盖老化座_镀金IC编程座IC549-0444-015-G

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浏览:- 发布日期:2021-10-09 17:09:00【
工厂介绍

鸿怡电子生产QFN44-0.4芯片测试座_翻盖老化座_镀金IC编程座IC549-0444-015-G,同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/治具/测试架/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等

QFN44编程老化测试座

产品简介

产品用途:编程座、测试座,对QFN44的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN44引脚间距0.4mm

测试座:QFN44-0.4

特点:采用U型顶针,接触更稳定

规格尺寸

型号:QFN-44-0.4

引脚间距(mm):0.4

脚位:44

芯片尺寸:6*6
IC549-0444-015-G老化测试座

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