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老化测试座
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QFN52-0.4(7*7)翻盖弹片IC
老化测试座
QFN52-0.4 老化座 芯片测试座 编程座 0.4间距 工厂 现货
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QFN84-0.4(10*10)翻盖弹片芯片
老化测试座
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QFN76-0.4(9*9)翻盖弹片芯片
老化测试座
QFN76 老化座 0.4间距 翻盖弹片测试座 适配器 烧写座
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BGA144-0.8下压弹片
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国芯GX3011B 测试座
国芯GX3011B 测试座 老化座 烧录座 BGA144 IC插座 0.8间距 深圳市鸿怡电子有限公司为国芯GX3011B这款芯片(BGA144 10*10mm pitch:0.8mm)专门定制的一款可以上自动机台的下压弹片测试座!性能稳定,寿命长,性价比...
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BGA96转DIP96翻盖弹片芯片测试座烧录座
BGA96转DIP96 翻盖测试座 芯片老化座 烧录座 0.8间距 厂家直销 工厂直销店铺 欢迎批发 质优价廉! 翻盖弹片测试座,BGA96-0.8翻盖弹片测试座,大量现货当天发! 【翻盖/带板】
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BGA100下压弹片转USB IC测试座
产品用途:编程座、测试座,对EMMC100的IC芯片进行读写、测试
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EMCP162/186下压弹片转20pin芯片
老化测试座
集成电路应用功能验证测试 可根据用户要求定做各种阵列的socket EMCP162/186下压弹片转20PIN芯片测试座 安卓手机数据恢复专用
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QFN36-0.5翻盖弹片IC
老化测试座
产品用途: 编程座、测试座,对QFN36的IC芯片进行烧写、测试
适用封装: QFN36引脚间距0.5mm
测 试 座: QFN36-0.5
特 点: 底部引出引脚为不规则排列
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SSOP20(28)-0.65下压弹片IC测试座
本款烧录座适配芯片规格:SSOP/TSSOP封装、20PIN;
引脚间距0.65mm、芯片本体(不含引脚)宽度4.4mm
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SOP20(28)-0.65芯片
老化测试座
绝缘体: PEI、PPS
弹 片: 铍铜
寿 命: 1.5万次
工作温度: -60℃~155℃
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QFN56-0.5翻盖弹片IC老化座
产品用途:编程座、测试座,对QFN56的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN56引脚间距0.5mm
测 试 座:QFN56-0.5
特 点:采用U型顶针,接触更稳定
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QFN36-0.5翻盖弹片IC
老化测试座
产品用途: 编程座、测试座,对QFN36的IC芯片进行烧写、测试
适用封装: QFN36引脚间距0.5mm
测 试 座: QFN36-0.5
特 点: 底部引出引脚为不规则排列
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QFN24下压弹片IC
老化测试座
产品用途:编程座、测试座,对QFN24的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN24引脚间距0.4mm
测 试 座:QFN24-0.4
特 点:采用U型顶针,接触更稳定
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QFN24-0.5翻盖弹片芯片
老化测试座
产品用途: 编程座、测试座,对QFN24的IC芯片进行烧写、测试
适用封装: QFN24,MLP24,MLF24 引脚间距0.5mm
特 点: 底部引出引脚为不规则排列
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QFN24翻盖单层板芯片烧录座
产品用途:编程座、测试座,对QFN24的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN24引脚间距0.5mm
测 试 座:QFN24-0.5
特 点:采用U型顶针,接触更稳定
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QFN24-0.5 双层板芯片测试座
产品用途:编程座、测试座,对QFN24的IC芯片进行烧写、测试 适用封装:QFN24引脚间距0.5mm 测 试 座:QFN24-0.5 特 点:采用U型顶针,接触更稳定
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QFN20-0.5间距翻盖弹片芯片老化座
产品用途: 编程座、测试座,对QFN20的IC芯片进行烧写、测试
适用封装: QFN20,MLP20,MLF20 引脚间距0.5mm
特 点: 底部引出引脚为不规则排列
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QFN12-0.5(3*3)翻盖弹片芯片
老化测试座
产品用途: 编程座、测试座,对QFN的IC芯片进行烧写、测试
适用封装: QFN12 引脚间距0.5mm
测 试 座: QFN12-0.5
特 点: 采用U型顶针,接触更稳定
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QFP64下压弹片芯片烧录座
产品用途:编程座、测试座,对QFP64的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN64引脚间距0.5mm
测试座:QFP64-0.5烧录座
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