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QFN36-0.5翻盖弹片IC老化测试座详细信息/Detailed Information

QFN36-0.5翻盖弹片IC老化测试座

产品用途: 编程座、测试座,对QFN36的IC芯片进行烧写、测试
适用封装: QFN36引脚间距0.5mm
测 试 座: QFN36-0.5
特 点: 底部引出引脚为不规则排列
订购热线:13631538587
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QFN36翻盖弹片测试座

 

产品简介

 

产品用途 编程座、测试座,对QFN36的IC芯片进行烧写、测试
适用封装 QFN36引脚间距0.5mm
测试座 QFN36-0.5
特点 底部引出引脚为不规则排列

 


采购:QFN36-0.5翻盖弹片IC老化测试座

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