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BGA24pin-0.67×0.53合金翻盖
探针测试座
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定制模块144pin-1.0-40×40合金旋钮翻盖
探针测试座
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定制SOT23-1.27-4mm合金翻盖
探针测试座
工厂介绍 鸿怡电子生产定制SOT23-1.27-4mm合金翻盖
探针测试座
,同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。
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GDDR5
探针测试座
BGA178测试架 夹具 工装 2.8GHz高频测试
①适用于常规的BGA178-0.8封装的GDDR5颗粒芯片;
②双头高频测试探针,可过2.8GHz高频型号;
③带PCB转接板,采购回去在PCB板子上面植球即可像SMT贴片一样把测试座直接贴在PCB上面适用;
④适用寿命1...
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BGA152/132翻盖探针老化座
一、产品用途:BGA152/132
探针测试座
,对BGA152/BGA132的芯片进行测试
二、适用封装:BGA152/BGA132 引脚间距1.0mm
三、BGA152/132翻盖探针老化座:BGA152-1.0
四、有球无球兼...
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EMCP254合金
探针测试座
& HS400 EMCP读卡器
封装类型:BGA
引脚数2~254
间距0.5
导电体Pogo pin
支持eMCP254版本;USB3.0,支持热插拔;eMMC, eMCP和UFS数据的快速读写,擦除
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定制摄像头芯片BGA80合金翻盖
探针测试座
型号: BGA80-1.0合金翻盖
探针测试座
适用场景: 测试 烧录 编程 老化
封装方式: BGA
引脚间距: 1mm
引脚数: 80个
测试座类型: 翻盖式
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新开模晶振3225
探针测试座
贴片晶振老化座3225晶振老化座
产品均有尺寸图纸,如有需要请联系客服提供!
3225-4pin晶振探针老化座 3.2×2.5mm crystal socket测试座
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SMT贴片晶振7050-4pin翻盖
探针测试座
规格尺寸
一、型号: 7050(7.0*5.0)-4PIN
二、脚位:4pin
三、芯片尺寸:7.0*5.0mm
贴片晶振7050 7.0*5.0mm 4pin晶振双面弹老化座
适用于有源晶振编程、烧录、老化
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QFN48射频IC测试座 定制QFN48socket QFN48合金
探针测试座
适用于IC设计公司作芯片的样片功能验证使用
芯片封装参数:QFN48 间距0.5mm 尺寸7*7mm
根据客户要求,达到3GHZ频率,电流200mA
采用进口探针,测试寿命可达8-10W次
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WSON烧录座 DFN10 4*3mm 0.5间距翻盖
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BGA378定制测试座 BGA378测试座 BGA测试socket 定制BGA测试治具
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定制BGA784芯片测试座 精密定制IC测试座 BGA测试座
BGA芯片测试座,适配BGA封装的784PIN芯片
可根据客户需求定制各类IC测试座\IC test socket
适用于芯片设计公司的产品验证、性能测试等
一个起订,欢迎有需要的客户咨询洽谈
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客制品-BGA676-1.0合金翻盖旋钮测试座
厂家定制各类芯片的测试座、老化座
本产品适用于BGA封装的676球芯片,间距1.0mm
适用于芯片设计公司的产品验证、性能测试等
一个起订,欢迎有需要的客户咨询洽谈
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BGA63弹片老化座 bga63封装IC 测试座 数据恢复工具 BGA63测试座
本款下压老化座适配BGA封装63PIN的芯片
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