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QFN48射频IC测试座 定制QFN48socket QFN48合金探针测试座详细信息/Detailed Information

QFN48射频IC测试座 定制QFN48socket QFN48合金探针测试座

适用于IC设计公司作芯片的样片功能验证使用
芯片封装参数:QFN48 间距0.5mm 尺寸7*7mm
根据客户要求,达到3GHZ频率,电流200mA
采用进口探针,测试寿命可达8-10W次
订购热线:13631538587
立即咨询

※ 采用手动翻盖/双扣式结构,操作方便;

※ 上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位; 

※ 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,而不会损伤锡球;

※ 高精度的定位槽和导向孔,保证IC定位精确,测试效率高;

※ 测试频率可达9.3GHz; 

※ 用途:集成电路应用功能验证测试;

※ 可根据用户要求定做各种阵列的socket 

※ 有翻盖式结构和双扣结构两种方式可供选择,操作方便; 

※ 可根据用户要求定做各种阵列的socket


适用于IC设计公司作芯片的样片功能验证使用

芯片封装参数:QFN48  间距0.5mm  尺寸7*7mm
根据客户要求,达到3GHZ频率,电流200mA 

采用进口探针,测试寿命可达8-10W次


QFN射频芯片测试座4

QFN射频芯片测试座1

QFN射频芯片测试座2


采购:QFN48射频IC测试座 定制QFN48socket QFN48合金探针测试座

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