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定制非标QFN16-0.4(3×2)翻盖塑胶探针高低温老化测试座
定制塑胶
探针测试座
特点:
①采用开模塑胶外壳,一体成型,成本低、交期短;
②采用双头测试探针,探针可更换,PCB可循环利用,综合成本低;
③非标IC,根据客户需求针对性...
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定制PLCC52\LCC52翻盖
探针测试座
老化夹具治具测试socket
测试座(夹具)特点:
①测试座设计翻盖式结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定,盖子开窗满足测试实时观察现象需求。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
...
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定制SMD-4PIN贴片翻盖
探针测试座
老化座socket晶振
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:PEI;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:PEI;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越大;
...
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定制QFN73-0.5-7×7×0.85翻盖
探针测试座
老化座烧录座夹具
产品特点及性能参数:
采用翻盖式旋钮结构,下压平稳接触稳定;?
高精度的定位槽,保IC定位精确;?
探针可更换,维修方便,成本低;?
KEEP工程绝缘材料制作;?
最小可做到跳距pitch=0.35mm...
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定制QFN16-0.5双扣旋钮手自一体式
探针测试座
夹具ATE socket
产品特点:采用双扣旋钮式结构,适用于人工手动操作以及自动化设备测试烧录。
接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
核心部件材质:peek陶瓷;
额定电流:1A;
操作压力:30g、PIN越多压力越大...
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定制BGA60-0.8(8×9mm)合金翻盖
探针测试座
flash读写烧录座
socket性能参数:
工作频率:1666MHZ;
工作温度:-55℃~155℃;
单PIN电流:1A;
接触阻抗:≤100mΩ
材质:PEEK、AL
接触材质:镀金探针
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定制QFP144-0.4(16×16)合金翻盖旋钮
探针测试座
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LGA14pin翻盖合金
探针测试座
LGA14pin测试座规格
芯片封装类型:LGA
芯片引脚:14pin
芯片引脚间距:0.5mm
芯片尺寸:2.5×3mm
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定制LCC44-1.1(16×18mm)合金翻盖
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