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GDDR5探针测试座 BGA178测试架 夹具 工装 2.8GHz高频测试详细信息/Detailed Information

GDDR5探针测试座 BGA178测试架 夹具 工装 2.8GHz高频测试

①适用于常规的BGA178-0.8封装的GDDR5颗粒芯片;
②双头高频测试探针,可过2.8GHz高频型号;
③带PCB转接板,采购回去在PCB板子上面植球即可像SMT贴片一样把测试座直接贴在PCB上面适用;
④适用寿命100000次;
⑤适用环境温湿度为-55~155℃≤85%hr;
订购热线:13631538587
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测试座(夹具)特点:
①适用于常规的BGA178-0.8封装的GDDR5颗粒芯片;
②双头高频测试探针,可过2.8GHz高频型号;
③带PCB转接板,采购回去在PCB板子上面植球即可像SMT贴片一样把测试座直接贴在PCB上面适用;
④测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
⑤测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
⑥测试座使用进口双头探针接触方式,相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短,从而使测试 更稳定,频率更高。
⑦测试(老化)PCB与Socket采用定位销定位及防呆,采用螺丝连接、固定,拆卸、维护简单方便。

测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越大;
⑦接触电阻:<100mΩ;
⑧环境温度:-55℃~175℃;
⑨机械寿命:100000;


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GDDR178测试座

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