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LPDDR4X bga200翻盖探针测试座 BGA200测试夹具详细信息/Detailed Information

LPDDR4X bga200翻盖探针测试座 BGA200测试夹具

型号: LPDDR-BGA200球
品牌: HMILU
产地: 中国大陆
适用场景: 测试,烧录,编程,老化
封装方式: BGA
引脚间距: 0.8mm
本体尺寸 : 10x14.5mm
引脚数: 200个
测试座类型: 翻盖式/翻盖旋钮式
订购热线:13631538587
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型号: LPDDR-BGA200球
品牌: HMILU
产地: 中国大陆
适用场景: 测试,烧录,编程,老化
封装方式: BGA
引脚间距: 0.8mm
本体尺寸 : 10x14.5mm
引脚数: 200个
测试座类型: 翻盖式/翻盖旋钮式

产品特点:支持高频3200Mbps

 采用手动翻盖/双扣式结构,操作方便;

 上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;

 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,而不会损伤锡球;

 高精度的定位槽和导向孔,保证IC定位精确,测试效率高;

 测试频率可达9.3GHz

 用途:LPDDR4X芯片功能验证测试;

 可根据用户要求定做各种阵列的socket

 有翻盖式结构和双扣结构两种方式可供选择,操作方便;

 上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;

 探针的特殊头形突起能刺破锡球的氧化层,接触可靠,而不会损伤锡球

 用途:集成电路应用功能验证测试

 可根据用户要求定做各种阵列的socket

 

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深圳市鸿怡电子有限公司是一家集研发、生产、销售于一体的技术型高新企业。公司专注研发生产各类应用于芯片功能验证的IC test socket/fixture、老化座、烧录座、FPC/BTB测试模组,提供专业的芯片测试老化解决方案。


GDDR200球测试座3

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