新能源汽车车规芯片QFN老化测试座

当前位置：首页 » 鸿怡电子产品中心 » 老化测试座 » QFN老化座 » 新能源汽车车规芯片DFN封装MOS场效应管\大功率管测试座_PDFN芯片老化座

新能源汽车车规芯片DFN封装MOS场效应管\大功率管测试座_PDFN芯片老化座详细信息/Detailed Information

$新能源汽车车规芯片DFN封装MOS场效应管\大功率管测试座_PDFN芯片老化座$

prevnext

查看全部大图

新能源汽车车规芯片DFN封装MOS场效应管\大功率管测试座_PDFN芯片老化座

该QFN产品系列主要应用于新能源汽车车规芯片高低温老化、性能测试使用
适用于PDFN、DFN、TO等封装大电流大功率芯片、MOS管
常见的芯片有电源转换芯片老化测试、动力分配传感器芯片老化测试、电源管理芯片老化测试
使用环境温度最高可达到200℃≤85HR@3000小时

订购热线：13631538587

产品详情

MOS大功率管测试座（夹具）特点：
①测试座设计成翻盖结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短，从而使测试更稳定，频率更高。
④测试（老化）PCB与Socket采用定位销定位及防呆，采用螺丝连接、固定，拆卸、维护简单方便。

DFN封装测试座（夹具）特性
①结构：翻盖式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电流：1A；
⑥操作压力：30g、PIN越多压力越大；
⑦接触电阻：＜100mΩ；
⑧环境温度：-55℃~175℃；
⑨机械寿命：100000；

工厂介绍

鸿怡电子生产的该QFN产品系列主要应用于新能源汽车车规芯片老化测试用，适用于电源转换芯片老化测试、动力分配传感器芯片老化测试、电源管理芯片老化测试，包含汽车EMC芯片老化测试、汽车气压控制芯片老化测试、汽车DSP控制器芯片老化测试、汽车液位检测设备芯片老化测试、汽车ECU芯片老化测试、压力传感器芯片老化测试、汽车ASC芯片老化测试

新能源汽车芯片测试座

车规级汽车芯片测试座

汽车芯片老化座

汽车芯片老化测试座

新能源汽车车规芯片老化测试用适用于电源转换芯片老化测试、动力分配传感器芯片老化测试、电源管理芯片老化测试

采购：新能源汽车车规芯片DFN封装MOS场效应管\大功率管测试座_PDFN芯片老化座

*联系人：
*手机：
公司名称：
邮箱：
电话：
您是从哪里找到我们的：
*采购意向：
*验证码：

跟此产品相关的产品 / Related Products

: 定制QFN56-0.4（7x7）下压合金顶窗探针测试座自动化烧录夹具; QFN56下压探针烧录夹具特点：
①下压（按压式结构），适配于自动化设备气缸、机械手使用，大大提高烧录测试效率。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短，从而使测试更稳定，频率更高。
④测试（老化）PCB与Socket采用定位销定位及防呆，采用螺丝连接、固定，拆卸、维护简单方便。

: 定制QFN22翻盖探针测试座老化老炼夹具治具老化测试socket; 定制QFN22翻盖探针测试座产品简介
芯片pin脚分为两边，整块大pin为D脚，另一边是S脚属于电源部分，一进一出需要2100V/500mA；
其他引脚使用普通pin即可；
芯片的开关频率是200KHZ，需要老化温度至175℃*1000小时；

: 定制PDFN6x8 / QFN33-0.65开模翻开塑胶探针高温老化座老化夹具老炼座治具socket; 产品简介：PDFN6x8（QFN33-0.65封装）新封装芯片150℃高温老化座
特点：采用开模注塑外壳，核心部分通过CNC加工的方式定制各种非标老化测试座。
老化座适配芯片尺寸：6*8mm
老化座外形尺寸：12*18mm
老化座材质：PEI+镀镍金探针
耐温范围：-40℃~125℃，相对湿度小于85%
机械寿命：10W+
老化寿命：2000H+