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QFN48-0.5测试座_烧录座_QFN48老炼座_镀金适配座_7×7高温老化座

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浏览:- 发布日期:2021-09-09 15:46:32【
工厂介绍

鸿怡电子生产QFN48-0.5测试座_烧录座_QFN48老炼座_镀金适配座_7×7高温老化座,同时还生产其他IC测试夹具治具。

QFN48高温老化测试座

产品简介

A、产品用途:编程座、烧录座、老化座、测试座,对QFN48的IC芯片进行高低温老化、测试、烧录。

可用于作HOTL\HAST老化试验

B、适用封装:QFN48引脚间距0.5mm

C、测试座:QFN48-0.5

D、特点:采用U型顶针,接触更稳定,寿命长,机械寿命:10W次

E、工作温度:-55℃~155℃    电流:1A max

F、我司可提供规格书(布板图),PDF档\CAD 欢迎联系客户索要图纸,


QFN48老炼适配测试座
 规格尺寸

A、型号:QFN-48-0.5

B、引脚间距(mm):0.5

C、脚位:48

D、芯片尺寸:7*7mm    对应国外型号:790-42048101T

QFN48老化烧录测试座


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