鸿怡电子生产QFN48-0.5测试座_烧录座_QFN48老炼座_镀金适配座_7×7高温老化座，同时还生产其他IC测试夹具治具。

产品简介

A、产品用途:编程座、烧录座、老化座、测试座，对QFN48的IC芯片进行高低温老化、测试、烧录。

可用于作HOTL\HAST老化试验

B、适用封装:QFN48引脚间距0.5mm

C、测试座:QFN48-0.5

D、特点:采用U型顶针，接触更稳定，寿命长，机械寿命：10W次

E、工作温度：-55℃~155℃ 电流：1A max

F、我司可提供规格书（布板图），PDF档\CAD 欢迎联系客户索要图纸，

规格尺寸

A、型号:QFN-48-0.5

B、引脚间距(mm):0.5

C、脚位:48

D、芯片尺寸:7*7mm 对应国外型号：790-42048101T