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定制翻盖旋钮 BGA676封装 测试座 老化座 老炼夹具 测试socket详细信息/Detailed Information

定制翻盖旋钮 BGA676封装 测试座 老化座 老炼夹具 测试socket

BGA676封装测试座老化座老炼夹具测试socket
BGA676封装,1.0间距,27*27尺寸
测试信号频率100MHZ
功率8W
电流8A
温度常温
订购热线:13631538587
立即咨询

BGA676封装测试座老化座老炼夹具测试socket

产品特点:
采用金属铜块散热;
采用翻盖式旋钮结构,压力均匀,不移位下压平稳接触稳定; 
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠; 
高精度的定位槽,保IC定位精确; 
采用浮板结构有球无球均能测试;
测试探针可更换,维修方便,成本低; 
采用KEEP+陶瓷工程绝缘材料制作; 
最小可做到跳距pitch=0.35mm(引脚中心到中心的距离); 
BGA676老化座

BGA676测试座

BGA676测试socket

BGA676测试夹具

BGA676老化夹具

采购:定制翻盖旋钮 BGA676封装 测试座 老化座 老炼夹具 测试socket

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