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EMCP162/186下压弹片转20pin芯片老化测试座
集成电路应用功能验证测试 可根据用户要求定做各种阵列的
socket
EMCP162/186下压弹片转20PIN芯片测试座 安卓手机数据恢复专用
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EMCP221翻盖弹片转20PIN芯片测试座
集成电路应用功能验证测试
可根据用户要求定做各种阵列的
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GDDR3一拖四显存测试治具
集成电路应用功能验证测试 可根据用户要求定做各种阵列的
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GDDR5一拖二显存测试治具
集成电路应用功能验证测试 可根据用户要求定做各种阵列的
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DDR3*8一拖八内存条测试治具
集成电路应用功能验证测试 可根据用户要求定做各种阵列的
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GDDR5内存芯片测试座
集成电路应用功能验证测试 可根据用户要求定做各种阵列的
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DDR2/3/4芯片测试座 DDR测试治具,内存颗粒测试座
集成电路应用功能验证测试 可根据用户要求定做各种阵列的
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LPDDR240芯片测试座
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LPDDR216芯片测试座
集成电路应用功能验证测试 可根据用户要求定做各种阵列的
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LPDDR221芯片分析测试座
集成电路应用功能验证测试 可根据用户要求定做各种阵列的
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LPDDR168内存条芯片测试治具
集成电路应用功能验证测试 可根据用户要求定做各种阵列的
socket
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TSOP66-0.6下压弹片IC测试老化座
产品用途: 老化座、测试座,对TSOP66的IC芯片进行测试
适用封装: TSOP66引脚间距0.65mm
测 试 座: TSOP66-0.65 SOCKET
特 点: 采用双触点技术 接触更稳定 导电体抗疲劳高,寿命更长
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TSOP54-0.8下压弹片IC测试老化座
产品用途: 老化座、测试座,对TSOP54的IC芯片进行测试
适用封装: TSOP54引脚间距0.8mm
测 试 座: TSOP54-0.8 SOCKET
特 点: 导电体采用进口铍铜材料厚金处理,阻力小 弹力好 寿命长
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DDR4*8一拖八内存条测试治具(台湾订制版)
1、Socket材料:优质铝合金、工程玻纤、工程塑料
2、PCBA板材料:FR4、镀金焊盘30mil,导电性、抗氧化性强
3、探针 材料:
针管:磷铜
针头:铍铜
弹簧:琴钢丝
电气...
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eMMC153/169通用
socket
+转接板芯片分析座—新结构
1、eMMC 153 /169 ball ptich:0.5
2、频率F:1600MHZ
3、外形尺寸:25mm×25mm×4mm
4、避空高度:2mm(用于避空集成电路周围的元器件)
3、适用于:sandisk、三星等各类eMMC颗粒
PCBA...
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eMMC153/169 eMCP162/186 eMCP221 转USB接口 测试座 三合一套装
产品用途:编程座、测试座,对eMMC153/169 eMCP221 eMCP162/186 的IC芯片进行测试、读写
测试方法:
1.选择和IC匹配的限位框,把IC按方向平放入SOCKET内
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EMMC153/169翻盖弹片转USB芯片测试座
产品用途:编程座、测试座,对EMMC153/169的IC芯片进行测试、读写
测试方法
1.选择和IC匹配的限位框,把IC按方向平放入SOCKET内
2.把USB线插到电脑上USB接口,打开座...
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鸿怡 LPDDR168芯片测试座
1 无需客户lay板,直接采用客户提供的产品板,验证准确,最高主频率可以5GHZ;
2
socket
只要四颗螺丝便可拆下,探针可以跟换,维护简单方便;
3 白色限位框,可以更换,适用...
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鸿怡 connector摄像头模组测试座
1 采用手动翻盖式结构,操作方便;
2 上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;
3 高精度的定位槽和导向孔,保证IC定位精确,测试效率高;
4 测试频率可达9.3GHz;
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[新闻中心]为什么半导体芯片从设计到量产过程中,工程师都需要用到芯片测试座的评估与测试?
2025年07月07日 14:26
在半导体芯片从设计到量产的全流程中,芯片测试座的评估与测试是不可或缺的关键环节,其核心价值体现在以下几个方面: 一、设计验证阶段:确保功能与性能达标 1.原型功能验证 在芯片设计初期,工程师通过测试座连接原型芯片与测试设备,验证其逻辑功能是否符合设计预期。例如,使用Socket Phone等治具快速完成芯片的开机测试和固件烧录,避免反复焊接对芯片造成损伤。对于高频芯片(如5G基带芯片),测试座需支持27GHz以上的信号频率,并通过阻抗匹配(±3%)和低插损(<
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