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DDR4*8一拖八内存条测试治具(台湾订制版)详细信息/Detailed Information

DDR4*8一拖八内存条测试治具(台湾订制版)

1、Socket材料:优质铝合金、工程玻纤、工程塑料
2、PCBA板材料:FR4、镀金焊盘30mil,导电性、抗氧化性强
3、探针 材料:
针管:磷铜
针头:铍铜
弹簧:琴钢丝
电气性能:
额定电流:1.5A 接触阻抗:65-182 mohm(最大工作行程状态下)
机械性能:
压力:28g±20%(工作行程内)
测试寿命:10 万次
订购热线:13631538587
立即咨询

产品特点及性能参数:


1、产品通用性高,只需换颗粒限位框,即可测试尺寸不同的颗粒(宽度≤13MM 长度≤14MM);

2、产品全新设计,相比以前更薄,预留插槽卡位,不需转接槽可直接插到测试板上进行测试,

3、把频率衰减降到最低,减少误测;

4、有球无球均可测试,颗粒压板通过使用高精度自适应弹簧保证每个 IC 平衡下压;

5、采用手动翻盖滚轴式结构,操作省力方便,相比同类产品减少磨损,达到更高的使用寿命;

6、采用台湾著名厂家生产的内存颗粒测试专用 PCB,金手指、IC 焊盘镀金层是普通 PCB 的5倍,保证测试治具有更好的导通和耐磨性 ,相比同类产品具有更好的超频性能及使用寿命;

7、采用带定位孔内存颗粒测试专用 PCB,探针板与 PCB 孔定位,保证探针与 PCB 精确定位,如有损坏用户可自行更换维修,简单方便,减少返厂维修,为客户争取宝贵时间;

8、采用超短进口双头探针设计,相比同类测试产品使 IC 与 PCB 之间数据传输距离更短,从而使测试更稳定,频率更高,DDR4 系列频率2133MHZ起步;

9、探针板采用定位销加螺丝结构,在使用过程中如有探针损坏,客户可自行更换维修,方便

维护,为生产争取宝贵时间;

10、高精度合金 IC 定位框,保证 IC 定位精确,取放 IC 方便,从而提高测试效率;

11、测试寿命长,有效测试 10 万次以上;(视使用环境及相关操作而定)

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socket本体:PEI\LCP
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弹片镀层:镍金
操作压力:0.5KG min ,PIN越多压力越大
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1、工作温度:-55℃~155℃@5000h;
2、针板材质:陶瓷peek;外壳材质:铝合金;
3、探针镀覆:3μ" Au over 50-100μ" Ni(鍍金3μ",鎳底50~100μ");
4、单PIN额定电压&电流:直流12V&1.0A;
5、耐压:AC700V@1min; Dielecteic Withstanding Voltage For 1 Minute AT AC700V
6、接触电阻:≤100mΩ;
7、绝缘电阻(insulation resistance):1000MΩ Min At DC 500V ;
8、频率8GHZ;
9、机械寿命:≥10W次;

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