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热搜关键词： 定制IC测试座 IC老化板 模块测试座 SSD-flash存储
适用于BGA, QFN, DFN, LGA, QFP, SOP.TO,SMD等器件封装应用于HTOL,LTOL,HAST,HTRB,HTGB,H3TRB.大功率老化等各种Bun-in场景
SiC MOSFET功率单管老化测试板-(Burn-in Board)HTRB/HTGB/H3TRB老化板
支持定制各种IC/芯片封装的 HTRB HTGB H3TRB HAST IOL老化板
助力企业降本增效 提高产品测试良率
| 适用 | MOS管/三极管/IGBT可靠性测试 |
| 座子 | 翻盖/下压/直插(材质有塑胶和铝合金)>适用于间距0.3mm-2.54mm |
| 测试座材料 | Ceramic PEEK,pps,Torlon, PEI,Vespel SP-1 |
| 座头材料 | AL,Cu，PPS |
| 导电材质 | 探针/弹片 |
| 工作温度 | -55~200度 |
| 座子寿命 | >10万次(因测试条件不同结果不同) |
| 电流 | 1A-100A |
| 电压 | 1700V |
| 电阻 | 100MΩ以下老化时长:>5000H |
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