定制TSSOP14pin-0.65mm-4.9x6x1.15mm塑胶探针芯片老化测试座socket-鸿怡电子

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TSSOP芯片老化夹具

TSSOP芯片老化测试socket

芯片老化测试座

芯片老化测试夹具

芯片老化测试socket

定制TSSOP14pin芯片老化测试座

TSSOP芯片老化测试座参数:
Socket壳体:PEI
探针材料:铍铜
探针镀层:镍金
操作压力:2.0KGmin,与pin数成正比
接触阻抗:50mΩmax
耐压测试:700V AC for 1minute
绝缘阻抗:1000mΩ 500V
DC最大电流:1A
使用温度:-40°C-+155°C
机械寿命:20000次(机械测试)

服务热线： 13631538587

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鸿怡电子生产定制的TSSOP14pin芯片老化测试座产品介绍

适用规格	支持0.5、0.635、0.65引脚间距TSSOP封IC
支持频率	≤300Mhz
温度范围	-55°C~+175°C
操作力压	1.0Kg MAX
额定电流	1Amax/Pin
接触电阻	30mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)
绝缘电阻	1000mΩMin.At DC 500V
TSSOP封装翻盖结构老化测试座支持高精度运算芯片、运算放大器芯片、信号处理和数据传输芯片、逻辑芯片等测试、老化、烧录等检测