创新型 专精特新企业
订购热线：13632719880
订购热线：13632719880
热搜关键词： 定制IC测试座 IC老化板 模块测试座 SSD-flash存储
定制铜裸DIE-0.64 11x11x1.27 合金翻盖测试座参数：
本体尺寸：11.0*11.0mm
中心引脚间距：0.65mm
Socket壳体：合金+PEEK
探针材料：铍铜
探针镀层：镍金
操作压力：2.0KGmin，与pin数成正比
接触阻抗：50mΩmax
耐压测试：700V AC for 1minute
绝缘阻抗：1000mΩ 500V DC
最大电流：1A
使用温度：-40°C-+155°C
机械寿命：大于80000次(机械测试)
| 适用规格 | 铜裸DIE |
| 支持频率 | ≤300Mhz |
| 温度范围 | -40℃-155℃ |
| 操作力压 |
35g每pin，PIN越多需要压力越大 |
| 额定电流 |
单PIN大于1A，中间接地铜块可过大电流同时，能更好接地 |
| 接触电阻 | ≤100毫欧 |
| 绝缘电阻 | DC500V1000兆欧以上 |
|
QFN/DFN封装翻盖结构测试座 支持EEPROM，驱动器IC，电源IC等QFN封装,芯片测试座009系列.有翻盖式、旋钮翻盖式、双扣式、分离式结构、下压开窗结构适合自动机台 |
|
咨询热线
0755-83587595
传真：0755-23287415
电话：13632719880 0755-83587595 
邮箱：liu@hydz999.com 
地址：深圳市宝安区西乡大道288号宝源华丰总部经济大厦A座1108室 友情链接:
深圳市鸿怡电子有限公司 保留一切权利 备案号：粤ICP备16068982号 百度统计
