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热搜关键词： 定制IC测试座 IC老化板 模块测试座 SSD-flash存储
功率元器件老化测试座产品特点
①开模注塑成型，精度高，电气性能稳定，生产周期短，生产成本低
②采用顶针式设计，安装拆卸方便，检修容易，PCB老化板可以重复使用
③接触材料采用进口铍铜、表层加厚镀金，接触阻抗小、弹性好、可靠性高
功率器件老化测试座socket
器件测试座socket产品参数
封装类型：半导体器件
引脚位数：4pin
中心间距：0.35mm
本体尺寸：1.03*0.53mm
测试温度:-45°~+125°
电流:单pin过流1A
器件老化测试座产品特点
1、 采用手动翻盖式结构，操作方便；
2、上盖的IC压板采用翻盖式结构，下压平稳，压力均匀，不移位；
3、探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠；
4、高精度的定位槽，保IC定位以及焊盘精确导通；
5、采用浮板结构有球无球都能测
6、镀金探针材料
7、探针可更换，维修方便，成本低
8、绝缘材料制作；
9、最小可做到跳距pitch=0.35mm(引脚中心到中心的距离）；
半导体器件测试座
器件多工位测试夹具
半导体器件测试socket
功率器件测试座
器件测试夹具
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