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BGA测试治具

BGA芯片测试架

LGA524测试治具_600x800

LGA模块测试架

LGA模块测试架

芯片测试治具

定制LGA524-0.8-50x55mm模块探针测试治具

SPECIFICATION
1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V
2、耐电压:For1 Minute At AC 700V
3、接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)
4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)
5、额定电流:1A max/Pin.
6、工作温度:-45°C ~+125°C
7、使用寿命:大于25,000 Times(Mechanical)
8、操作力:1.0Kg MAX(根据下针数量)
9、测试治具结构:旋钮翻盖式
10、测试架材料:合金+PEEK
11、中心引脚间距:0.8mm
12、适配芯片尺寸:50*55mm

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深圳鸿怡电子生产定制的LGA524pin-0.8mm-50*55mm芯片测试治具产品简介

LGA524pin芯片测试治具socket

LGA524 是典型的高密度栅格阵列封装（Land Grid Array），引脚数多、间距小（常见 0.4mm/0.5mm），对测试治具的精度、稳定性和可靠性要求极高，广泛应用于工业控制、汽车电子、高性能计算等领域。

一、核心结构与组成

1. 探针模块（核心部件）

探针类型：常用铍铜探针，适配 LGA524 的细密焊盘。
针距精度：±0.02mm 以内，确保与芯片焊盘 100% 对位，避免短路 / 接触不良。
寿命设计：支持≥10 万次插拔，满足批量测试需求。

2. 定位与锁紧机构

定位方式：高精度型腔定位 + 光学对位基准，保证芯片 X/Y/Z 三轴偏差≤0.03mm。
锁紧结构：合金旋钮式，锁螺丝式
- 客户偏好的螺丝加压结构可精准控制压力，适合对可靠性要求高的场景。

LGA524pin-0.8mm芯片图纸

LGA524模块尺寸图

LGA524-0.8mm芯片测试治具图纸

LGA524-0.8mm 芯片测试治具socket产品展示

LGA封装芯片测试架
芯片测试治具
LGA524-0.8测试治具
LGA524-0.8芯片测试架socket
芯片测试治具socket
芯片测试夹具

采购：定制LGA524-0.8-50x55mm模块探针测试治具

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