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ATE测试座

LCC芯片测试夹具

LCC12pin芯片测试座

芯片自动化测试座

定制LGA12pin-0.5mm芯片自动化ATE测试座

SPECIFICATION

1绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

2、耐电压:For1 Minute At AC 700V

3、接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)

4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)

5、额定电流:1A max/Pin.

6、工作温度:-45°C ~+125°C

7、使用寿命:20,000 Times(Mechanical)

8、操作力:1.0Kg MAX

9、中心引脚间距:0.5mm

10、适配芯片尺寸:2*2mm

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鸿怡电子生产定制的LGA12pin-0.5mm-2*2mm翻盖式芯片ATE自动化老化测试座socket产品简介

LGA封装芯片测试座,LGA模块测试座socket：

LGA封装是一种电子元器件封装技术，它基于Land Grid Array（LGA）连接器的设计原理，用于将集成电路芯片与印刷电路板（PCB）相连接。LGA封装具有许多优点，如较高的可靠性、良好的散热性能和较低的插拔力等
鸿怡电子研发,生产各类封装的半导体芯片测试座,老化座,测试夹具治具,集成电路IC的Burn-in-Socket和Test-Socket，产品封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等。

LGA12pin-0.5mm芯片图纸

LGA12pin芯片图纸

LGA12pin-0.5mm 芯片自动化ATE测试座图纸

LGA12pin芯片ATE测试座图纸

定制LGA12pin-0.5mm 芯片自动化ATE 测试座socket产品展示

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定制LGA芯片自动化测试座
芯片ATE测试座

采购：定制LGA12pin-0.5mm芯片自动化ATE测试座

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