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支持频率:≤200Mhz
温度范围:-45℃-125℃
操作力压:30g每pin,PIN越多需要压力越大
额定电流:单PIN1A max
接触电阻:≤50毫欧
绝缘电阻:DC500V 1000兆欧以上
机械寿命:>1.5万次
中心引脚间距:1.27mm
适配芯片尺寸:24.13*24.13mm
支持封装:QFN24-1.0mm -15x15mm
产品特点:正面下针,器件在测试座腔体内导放。
光电探测器模块测试座是一种用于光电探测器模块性能测试与老化筛选的专用连接装置,它为待测模块提供稳定的电气连接、光学耦合和机械定位,确保测试过程中信号完整性与测试结果的准确性。作为光电子行业生产、研发与质量控制的关键设备,它广泛应用于光通信、激光雷达、量子通信、光纤传感等领域。
24pin光电探测器测试座
LCC24pin芯片测试socket
LCC探测器测试座
LCC芯片测试socket
LCC芯片测试夹具
LCC芯片测试座
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