您当前的位置： 首页 > 产品频道 > LCC/CLCC封装系列 > 定制LCC28-1.27mm测试座socket

定制测试座

lcc芯片测试座

LCC28pin芯片测试夹具

LCC老化座

定制探针测试座

定制LCC28-1.27mm测试座socket

支持频率：≤200Mhz

温度范围：-45℃-125℃

操作力压：30g每pin，PIN越多需要压力越大

额定电流：单PIN1A max

接触电阻：≤50毫欧

绝缘电阻：DC500V 1000兆欧以上

机械寿命：>1.5万次

中心引脚间距:1.27mm

适配芯片尺寸:11.43*11.43mm

服务热线： 13631538587

在线咨询

鸿怡电子生产的LCC28-1.27（11.43*11.43）mm双扣测试座产品简介

PLCC、CLCC、LCC区别：

PLCC与CLCC的区别:以前仅在于前者用塑料,后者用陶瓷。 LCC是指无引脚封装，有的也称QFN。适用芯片、模块封装。

LCC28-1.27（11.43*11.43）mm芯片规格参数

芯片测试座

LCC28-1.27（11.43*11.43）mm 芯片老化测试座图纸

芯片测试座socket

LCC28-1.27（11.43*11.43）mm 芯片老化测试座产品展示

芯片测试插座
CLCC28pin芯片测试socket
CLCC28pin芯片测试夹具
CLCC芯片测试座
芯片测试夹具
芯片测试座

采购：定制LCC28-1.27mm测试座socket

热品推荐 / Hot product

: 定制QFN16pin-0.5mm双扣旋钮芯片测试座

: 定制LCC28-1.27mm测试座socket

: 定制DFN40-1.04mm芯片测试座socket

定制LCC28-1.27mm测试座socket

热品推荐 / Hot product

定制QFN16pin-0.5mm双扣旋钮芯片测试座

定制LCC28-1.27mm测试座socket

定制DFN40-1.04mm芯片测试座socket

鸿怡电子产品中心

非标定制测试座

现货标准品

QFN/DFN封装系列

BGA封装系列

QFP/OTQ封装系列

SOP/OTS封装系列

TO封装系列

LGA封装系列

WLCSP封装系列

LCC/CLCC封装系列

EMMC/EMCP/UFS

SOT封装系列

LPDDR-GDDR-DDR系列

SMA/SMB/SMD系列

SSD-flash存储系列

有源/无源晶振系列

电阻电容电感系列

模块测试座

IGBT和新能源系列

军品/科研/航空

IC/芯片老化板

连接器测试微针模组

推荐资讯

1分钟了解几种芯片测试：计算芯片-存储芯片-传感器芯片-通讯芯片-功率芯片-模拟芯片

处理器芯片测试座socket工程师：BGA1517pin功能测试需求

芯片热仿真测试:鸿怡电子车规级QFP128pin芯片仿真测试座案例

“小龙虾”用户激增引发AI芯片、功率芯片、模拟芯片需求爆发，芯片测试产业链成“核心保障支撑”

鸿怡电子芯片可靠性老化测试方案商:芯片老化箱与芯片加热测试座socket定义与区别

芯片ESD可靠性测试和ESD功能性测试-芯片测试座解决方案

Enplas停止芯片测试座产线-哪个品牌能成为进口测试座替代的主流选择？

为电源芯片/模块测试服务:鸿怡电子电源模块LGA72pin封装老化测试座socket应用案例

核心算力载体:人工智能AI芯片测试基石-鸿怡电子高可靠性芯片测试座

数据中心算力枢纽:国产存储芯片测试“桥梁”-鸿怡电子DDR芯片测试夹具治具

深圳市鸿怡电子有限公司0755-83587595