IC/芯片测试座国产替代方案厂商

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芯片测试座

芯片测试socket

IC测试座

LCC芯片测试scoket

LCC芯片测试夹具

LCC芯片测试座

定制LCC146pin-1.0mm芯片测试座

支持频率:≤200Mhz

温度范围:-45℃-125℃

操作力压:30g每pin,PIN越多需要压力越大

额定电流:单PIN1A max

接触电阻:≤50毫欧

绝缘电阻:DC500V 1000兆欧以上

机械寿命:>1.5万次

中心引脚间距:1.0mm

适配芯片尺寸:35*44mm

支持封装:QFN146pin/LCC146pin

服务热线: 13631538587
鸿怡电子生产的LCC146pin-1.0mm-35*44mm芯片测试座产品简介

PLCC、CLCC、LCC区别:

PLCC与CLCC的区别:以前仅在于前者用塑料,后者用陶瓷。 LCC是指无引脚封装,有的也称QFN。适用芯片、模块封装。

LCC146pin-1.0mm芯片图纸

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LCC146pin-1.0mm芯片 测试座图纸

LCC146pin-1.0mm芯片测试座图纸

LCC146pin-1.0mm芯片 测试座产品展示
  • LCC146合金旋钮翻盖探针测试座LCC146pin芯片测试插座
  • LCC146-1.0 旋钮翻盖探针socketLCC146pin芯片测试socket
  • LCC146pin 探针测试治具LCC146pin芯片测试夹具
  • LCC146pin-1.0mm 测试治具LCC芯片测试socket
  • LCC146pin测试座socketLCC芯片测试夹具
  • LCC146pin-1.0mm 35x44 socketLCC芯片测试座
采购: 定制LCC146pin-1.0mm芯片测试座
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