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晶振测试夹具

晶振测试socket

晶振老化座

晶振老炼夹具

晶振老化测试座

鸿怡电子晶振测试座工厂

定制晶振6PIN-2.57mm探针测试座

晶振6pin测试座参数:

支持频率:≤1Ghz

温度范围:-40℃~155℃

操作力压:30g每pin,PIN越多需要压力越大

额定电流:单PIN 1A max

接触电阻:≤50毫欧

绝缘电阻:DC500V 1000兆欧以上

机械寿命:>1.5万次

测试座本体材料:PEI+PEEK

测试座结构:翻盖式

服务热线: 13631538587
深圳鸿怡电子生产定制的晶振6pin-2.57mm塑胶翻盖式探针测试座产品简介

贴片晶振以及微小芯片测试座:

贴片品振是一种封装形式为贴片的品振器件。它通常采用表面贴装技术(SMT)封装,具有小尺寸、轻量、易于安装等特点。需要注意的是,测试时需要确保测试环境的稳定性,避免干扰信号对测试结果的影响。另外,如果晶振无法正常工作,可能是晶振本身故障或者外部电路问题,可以进一步检查和排除故障。

晶振6pin-2.57mm规格参数

晶振6pin图纸

晶振6pin-2.57mm测试座图纸

晶振6pin测试座socket图纸

晶振6pin-2.57mm塑胶翻盖式测试座产品展示
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采购: 定制晶振6PIN-2.57mm探针测试座
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