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热搜关键词： 定制IC测试座 IC老化板 模块测试座 SSD-flash存储
绝缘阻抗：1000mΩ Min.At DC 500V
耐电压：For 1 Minute AtAC 700V
接触阻抗：100mΩ MAX。 at 10mA and 20mV MAX.(Initial)
额定电流：1A max/Pin
工作温度：-55°℃ ~+155°C
最高测试速率：5800Mhz(仅DDR5高速测试)
操作力：15~30g/Pin MAX
支持封装：LPDDR3/BGA178ball
手机存储芯片规格参数：P0.65mm-11.5x12.5mm
LPDDR3 芯片测试治具是专为低功耗 DDR3（LPDDR3） 存储芯片设计的专用测试接口与功能集成装置，核心适配BGA178 封装，用于芯片研发验证、量产测试、老化筛选与故障分析，保障 LPDDR3 在移动 / 嵌入式场景的电气、时序与功能合规性。
| 参数项 | 典型值 | 说明 |
|---|---|---|
| 适配封装 | BGA178 | 11.5x12.5mm 球距0.65mm |
| 工作电压 | 1.2V | LPDDR3 标准电压 |
| 测试带宽 | 6.4Gbps | 适配 LPDDR3-2133 |
| 接触电阻 | ≤50mΩ | 镀金触点，低损耗 |
| 工作温度 | -40℃~150℃ | 宽温测试与老化 |
| 温控精度 | ±0.5℃ | PID 闭环控制 |
| 插拔寿命 | ≥10 万次 | 量产级耐用性 |
| 信号完整性 | 眼图张开度≥80% | 高速信号稳定传输 |
LPDDR3测试治具
LPDDR3内存颗粒测试治具
DDR178芯片测试治具
LPDDR3-178球颗粒芯片测试架
LPDDR178ball测试架
LPDDR178测试夹具
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